防爆(bao)加熱(re)管(guan)是一種消耗電能轉換(huan)為熱(re)能，來對需加熱(re)物(wu)料(liao)進(jin)(jin)行加熱(re)。防爆(bao)加熱(re)管(guan)是由(you)外(wai)到(dao)里外(wai)殼（不繡鋼(gang)/碳鋼(gang)/銅/鈦材(cai)等、發(fa)熱(re)絲（鎳鉻鉛合金）、填充物(wu)（氧化鎂，作(zuo)用(yong)是導熱(re)、絕緣）、外(wai)殼（不繡鋼(gang)、碳鋼(gang)、鈦材(cai)、銅  等）、陶瓷封頭（作(zuo)用(yong)：絕緣）、防爆(bao)盒組(zu)成的。加熱(re)管(guan)在(zai)工作(zuo)中低溫流(liu)體(ti)介(jie)質(zhi)通過管(guan)道在(zai)壓力(li)作(zuo)用(yong)下進(jin)(jin)入其輸入口(kou)，沿著電加熱(re)容器(qi)內部特定(ding)換(huan)熱(re)流(liu)道，運用(yong)空氣(qi)電熱(re)管(guan)的流(liu)體(ti)熱(re)力(li)學(xue)原理設計的路徑，帶走(zou)空氣(qi)加熱(re)管(guan)中的電熱(re)元件工作(zuo)中所產生(sheng)的高(gao)溫熱(re)能量，使(shi)空氣(qi)加熱(re)管(guan)被加熱(re)介(jie)質(zhi)溫度升高(gao)，加熱(re)管(guan)出口(kou)得到(dao)工藝(yi)要求(qiu)的高(gao)溫介(jie)質(zhi)。

產品特點

1.升(sheng)溫時(shi)(shi)間(jian)在(zai)試(shi)驗電壓下，元件從環境溫度(du)升(sheng)至試(shi)驗溫度(du)時(shi)(shi)間(jian)應不大(da)于(yu)15min

2.額定(ding)功(gong)率(lv)偏(pian)差在充分發熱(re)的(de)(de)(de)條件(jian)下，元(yuan)(yuan)件(jian)的(de)(de)(de)額定(ding)功(gong)率(lv)的(de)(de)(de)偏(pian)差應不超過下列規(gui)定(ding)的(de)(de)(de)范圍(wei);對額定(ding)功(gong)率(lv)小于等于100W的(de)(de)(de)元(yuan)(yuan)件(jian)為:士10%。對額定(ding)功(gong)率(lv)大(da)于100W的(de)(de)(de)元(yuan)(yuan)件(jian)為+5%~- 10%或10W,取兩者中的(de)(de)(de)較(jiao)大(da)值(zhi)。

3.泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)冷態泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)以(yi)及水壓和密(mi)封試驗后(hou)泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)應不(bu)超(chao)過0.5mA工作溫(wen)度(du)下(xia)的熱(re)(re)態泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)應不(bu)超(chao)過公式(shi)中(zhong)的計算值，但(dan)不(bu)超(chao)過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱(re)(re)態泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)mA t-發熱(re)(re)長度(du)mm T-工作溫(wen)度(du)C多個(ge)元件串聯到(dao)電(dian)源中(zhong)時，應以(yi)這一組元件為 整體進行泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)試驗。

4. 絕(jue)(jue)緣電阻出廠檢(jian)驗時冷態(tai)絕(jue)(jue)緣電阻應(ying)(ying)不(bu)小于(yu)50MQ密封試驗后，長期(qi)存(cun)放或者(zhe)使用后的絕(jue)(jue)緣電阻應(ying)(ying)不(bu)消與(yu)MQ工作溫(wen)度(du)(du)下的熱態(tai)絕(jue)(jue)緣電阻應(ying)(ying)不(bu)低于(yu)公(gong)式(shi)中的計算值，但應(ying)(ying)不(bu)小于(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱態(tai)絕(jue)(jue)緣電阻MQ t一(yi)-發 熱長度(du)(du)mmT一(yi)工作溫(wen)度(du)(du)°C

5.絕(jue)緣耐壓(ya)(ya)強度元(yuan)件應在規定的試(shi)驗(yan)條件和試(shi)驗(yan)電壓(ya)(ya)下保持1min,而無閃(shan)絡和擊穿現象(xiang)

6.經受通(tong)斷電的能力(li)元件應能在規定的試(shi)(shi)驗條件下經歷2000次通(tong)斷電試(shi)(shi)驗，而不發生(sheng)損壞