防(fang)(fang)爆(bao)加(jia)熱(re)管(guan)是一種消(xiao)耗電能(neng)轉換(huan)為熱(re)能(neng)，來(lai)對需加(jia)熱(re)物(wu)料(liao)進(jin)行加(jia)熱(re)。防(fang)(fang)爆(bao)加(jia)熱(re)管(guan)是由(you)外到里外殼（不繡(xiu)鋼/碳鋼/銅(tong)/鈦材(cai)等、發熱(re)絲（鎳鉻鉛合金(jin)）、填充物(wu)（氧化(hua)鎂(mei)，作(zuo)用是導(dao)熱(re)、絕(jue)緣）、外殼（不繡(xiu)鋼、碳鋼、鈦材(cai)、銅(tong)  等）、陶瓷封(feng)頭（作(zuo)用：絕(jue)緣）、防(fang)(fang)爆(bao)盒組成(cheng)的(de)(de)。加(jia)熱(re)管(guan)在工(gong)作(zuo)中低(di)溫(wen)流體介質(zhi)通過(guo)管(guan)道在壓(ya)力(li)作(zuo)用下進(jin)入(ru)其輸(shu)入(ru)口，沿著(zhu)電加(jia)熱(re)容(rong)器內部特定換(huan)熱(re)流道，運用空(kong)(kong)氣電熱(re)管(guan)的(de)(de)流體熱(re)力(li)學原(yuan)理設(she)計(ji)的(de)(de)路徑，帶走空(kong)(kong)氣加(jia)熱(re)管(guan)中的(de)(de)電熱(re)元件(jian)工(gong)作(zuo)中所產生的(de)(de)高(gao)溫(wen)熱(re)能(neng)量(liang)，使空(kong)(kong)氣加(jia)熱(re)管(guan)被(bei)加(jia)熱(re)介質(zhi)溫(wen)度升高(gao)，加(jia)熱(re)管(guan)出口得到工(gong)藝要求(qiu)的(de)(de)高(gao)溫(wen)介質(zhi)。

產品特點(dian)

1.升溫(wen)時間在試驗電壓(ya)下，元件從環境溫(wen)度(du)升至試驗溫(wen)度(du)時間應不大于15min

2.額定(ding)功率偏差(cha)在充分發熱的(de)條(tiao)件下(xia)，元(yuan)件的(de)額定(ding)功率的(de)偏差(cha)應不超過下(xia)列規定(ding)的(de)范(fan)圍(wei);對(dui)(dui)額定(ding)功率小于等于100W的(de)元(yuan)件為:士10%。對(dui)(dui)額定(ding)功率大于100W的(de)元(yuan)件為+5%~- 10%或10W,取(qu)兩者(zhe)中的(de)較大值。

3.泄露電(dian)流(liu)冷態泄露電(dian)流(liu)以及水壓和密封試驗后泄露電(dian)流(liu)應(ying)不(bu)超(chao)過0.5mA工(gong)作(zuo)溫度下的(de)熱(re)態泄露電(dian)流(liu)應(ying)不(bu)超(chao)過公(gong)式(shi)中(zhong)的(de)計算值，但不(bu)超(chao)過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱(re)態泄露電(dian)流(liu)mA t-發熱(re)長度mm T-工(gong)作(zuo)溫度C多個(ge)元(yuan)件(jian)串聯到電(dian)源中(zhong)時，應(ying)以這(zhe)一(yi)組元(yuan)件(jian)為 整(zheng)體進行(xing)泄露電(dian)流(liu)試驗。

4. 絕緣(yuan)電阻(zu)出(chu)廠檢驗時(shi)冷態絕緣(yuan)電阻(zu)應(ying)不(bu)小于50MQ密封試驗后(hou)，長期存放或(huo)者使(shi)用(yong)后(hou)的絕緣(yuan)電阻(zu)應(ying)不(bu)消與MQ工作溫(wen)度(du)下(xia)的熱(re)態絕緣(yuan)電阻(zu)應(ying)不(bu)低于公(gong)式中的計算值，但應(ying)不(bu)小于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態絕緣(yuan)電阻(zu)MQ t一-發(fa) 熱(re)長度(du)mmT一工作溫(wen)度(du)°C

5.絕緣(yuan)耐壓(ya)強度(du)元件應在規定的(de)試驗條(tiao)件和(he)試驗電壓(ya)下保持1min,而無閃絡和(he)擊穿現象

6.經受通斷(duan)電(dian)的能(neng)力(li)元件應能(neng)在(zai)規(gui)定的試驗條件下(xia)經歷2000次通斷(duan)電(dian)試驗，而不(bu)發(fa)生損(sun)壞(huai)