防(fang)爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)是(shi)(shi)一種消耗電(dian)能轉換(huan)為熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)能,來(lai)對需加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)物料進行加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)。防(fang)爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)是(shi)(shi)由外(wai)到里(li)外(wai)殼(不繡鋼(gang)/碳(tan)鋼(gang)/銅(tong)/鈦材等、發熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)絲(鎳(nie)鉻鉛合金)、填(tian)充(chong)物(氧化鎂(mei),作(zuo)(zuo)(zuo)用(yong)是(shi)(shi)導熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)、絕緣)、外(wai)殼(不繡鋼(gang)、碳(tan)鋼(gang)、鈦材、銅(tong) 等)、陶瓷(ci)封頭(作(zuo)(zuo)(zuo)用(yong):絕緣)、防(fang)爆(bao)盒組成的(de)。加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)在工(gong)作(zuo)(zuo)(zuo)中低溫流(liu)體(ti)介質通過管(guan)(guan)道在壓力(li)作(zuo)(zuo)(zuo)用(yong)下進入(ru)(ru)其輸入(ru)(ru)口,沿著電(dian)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)容器內部(bu)特定換(huan)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)流(liu)道,運用(yong)空(kong)氣(qi)電(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)的(de)流(liu)體(ti)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)力(li)學原(yuan)理設計的(de)路(lu)徑,帶走空(kong)氣(qi)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)中的(de)電(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)元件工(gong)作(zuo)(zuo)(zuo)中所產生的(de)高溫熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)能量,使空(kong)氣(qi)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)被加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)介質溫度(du)升高,加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)出(chu)口得(de)到工(gong)藝要求(qiu)的(de)高溫介質。
產(chan)品特(te)點
1.升(sheng)溫時間在試(shi)驗(yan)電壓(ya)下,元件(jian)從環境溫度(du)升(sheng)至(zhi)試(shi)驗(yan)溫度(du)時間應(ying)不(bu)大于15min
2.額定(ding)功(gong)率(lv)偏差在充分發熱的(de)條件(jian)(jian)下(xia),元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)的(de)額定(ding)功(gong)率(lv)的(de)偏差應不超過下(xia)列規(gui)定(ding)的(de)范圍(wei);對額定(ding)功(gong)率(lv)小于(yu)等(deng)于(yu)100W的(de)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)為:士10%。對額定(ding)功(gong)率(lv)大于(yu)100W的(de)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)為+5%~- 10%或10W,取(qu)兩者中的(de)較大值。
3.泄露(lu)電流(liu)冷(leng)態泄露(lu)電流(liu)以及水壓和密封試驗后泄露(lu)電流(liu)應不(bu)超過(guo)0.5mA工(gong)作(zuo)溫(wen)度(du)下的熱態泄露(lu)電流(liu)應不(bu)超過(guo)公式(shi)中的計算(suan)值,但不(bu)超過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱態泄露(lu)電流(liu)mA t-發熱長度(du)mm T-工(gong)作(zuo)溫(wen)度(du)C多個元(yuan)件(jian)串聯到電源中時,應以這一組元(yuan)件(jian)為 整體進行泄露(lu)電流(liu)試驗。
4. 絕緣電阻(zu)出廠檢驗時(shi)冷態絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)小于(yu)(yu)50MQ密(mi)封試(shi)驗后,長期(qi)存放或者(zhe)使用(yong)后的(de)絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)消與MQ工(gong)作(zuo)溫度下(xia)的(de)熱態絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)低于(yu)(yu)公(gong)式中的(de)計(ji)算值,但應(ying)不(bu)小于(yu)(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱態絕緣電阻(zu)MQ t一-發 熱長度mmT一工(gong)作(zuo)溫度°C
5.絕(jue)緣耐壓強度(du)元件應(ying)在規定的(de)試(shi)驗(yan)條件和(he)試(shi)驗(yan)電(dian)壓下保持1min,而無閃絡和(he)擊穿現(xian)象
6.經受通(tong)斷電的(de)能力元件(jian)(jian)應能在規定的(de)試驗條件(jian)(jian)下經歷2000次(ci)通(tong)斷電試驗,而不發(fa)生損壞