防爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)管(guan)是一種消耗(hao)電能(neng)轉換為(wei)熱(re)能(neng)，來對需加(jia)(jia)熱(re)物料(liao)進行加(jia)(jia)熱(re)。防爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)管(guan)是由外到里外殼(ke)（不繡鋼/碳(tan)鋼/銅(tong)/鈦材等、發熱(re)絲（鎳鉻鉛合金）、填充物（氧化鎂，作(zuo)用(yong)(yong)是導(dao)熱(re)、絕緣）、外殼(ke)（不繡鋼、碳(tan)鋼、鈦材、銅(tong)  等）、陶瓷封頭（作(zuo)用(yong)(yong)：絕緣）、防爆(bao)盒組成的(de)(de)。加(jia)(jia)熱(re)管(guan)在工(gong)(gong)作(zuo)中(zhong)低(di)溫(wen)流體介(jie)質(zhi)通過(guo)管(guan)道在壓力作(zuo)用(yong)(yong)下(xia)進入其輸入口(kou)，沿著電加(jia)(jia)熱(re)容器內(nei)部特定(ding)換熱(re)流道，運用(yong)(yong)空氣電熱(re)管(guan)的(de)(de)流體熱(re)力學原理設計的(de)(de)路徑，帶走空氣加(jia)(jia)熱(re)管(guan)中(zhong)的(de)(de)電熱(re)元(yuan)件工(gong)(gong)作(zuo)中(zhong)所產生的(de)(de)高(gao)溫(wen)熱(re)能(neng)量(liang)，使(shi)空氣加(jia)(jia)熱(re)管(guan)被加(jia)(jia)熱(re)介(jie)質(zhi)溫(wen)度(du)升高(gao)，加(jia)(jia)熱(re)管(guan)出口(kou)得到工(gong)(gong)藝(yi)要(yao)求(qiu)的(de)(de)高(gao)溫(wen)介(jie)質(zhi)。

產(chan)品(pin)特點

1.升溫時(shi)(shi)間在試驗電(dian)壓下(xia)，元件(jian)從(cong)環境(jing)溫度升至試驗溫度時(shi)(shi)間應(ying)不大于15min

2.額定(ding)(ding)功(gong)率(lv)(lv)偏差在(zai)充分發熱的(de)條件下，元件的(de)額定(ding)(ding)功(gong)率(lv)(lv)的(de)偏差應不超過下列規定(ding)(ding)的(de)范圍(wei);對額定(ding)(ding)功(gong)率(lv)(lv)小于(yu)等于(yu)100W的(de)元件為:士10%。對額定(ding)(ding)功(gong)率(lv)(lv)大(da)于(yu)100W的(de)元件為+5%~- 10%或(huo)10W,取兩(liang)者中(zhong)的(de)較(jiao)大(da)值。

3.泄(xie)露(lu)電流冷態(tai)泄(xie)露(lu)電流以及水(shui)壓和密封試(shi)驗后泄(xie)露(lu)電流應不超(chao)過(guo)0.5mA工(gong)作溫(wen)度下(xia)的熱態(tai)泄(xie)露(lu)電流應不超(chao)過(guo)公(gong)式(shi)中的計算值，但不超(chao)過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱態(tai)泄(xie)露(lu)電流mA t-發熱長度mm T-工(gong)作溫(wen)度C多個元件串聯(lian)到(dao)電源中時(shi)，應以這(zhe)一組(zu)元件為 整體(ti)進(jin)行泄(xie)露(lu)電流試(shi)驗。

4. 絕緣(yuan)(yuan)電阻出廠檢(jian)驗(yan)時冷態(tai)絕緣(yuan)(yuan)電阻應(ying)不(bu)小(xiao)于50MQ密封試驗(yan)后，長期存放或者使用(yong)后的(de)(de)絕緣(yuan)(yuan)電阻應(ying)不(bu)消(xiao)與(yu)MQ工(gong)作(zuo)溫度下的(de)(de)熱態(tai)絕緣(yuan)(yuan)電阻應(ying)不(bu)低于公式中的(de)(de)計算值，但應(ying)不(bu)小(xiao)于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱態(tai)絕緣(yuan)(yuan)電阻MQ t一-發(fa) 熱長度mmT一工(gong)作(zuo)溫度°C

5.絕緣耐壓(ya)強度元件應(ying)在規(gui)定的試驗(yan)條件和(he)試驗(yan)電壓(ya)下保持1min,而無閃(shan)絡(luo)和(he)擊穿現象

6.經受通斷電(dian)的能力(li)元件應能在(zai)規定的試(shi)驗條件下經歷2000次通斷電(dian)試(shi)驗，而不(bu)發(fa)生損壞(huai)