防爆(bao)加(jia)熱(re)(re)管(guan)是(shi)(shi)一種消耗(hao)電能轉換(huan)為熱(re)(re)能，來對(dui)需加(jia)熱(re)(re)物料進行加(jia)熱(re)(re)。防爆(bao)加(jia)熱(re)(re)管(guan)是(shi)(shi)由外到里外殼（不(bu)繡(xiu)鋼/碳鋼/銅(tong)/鈦材(cai)等(deng)、發熱(re)(re)絲(si)（鎳鉻鉛合金(jin)）、填充物（氧化鎂，作用是(shi)(shi)導熱(re)(re)、絕緣）、外殼（不(bu)繡(xiu)鋼、碳鋼、鈦材(cai)、銅(tong)  等(deng)）、陶瓷封(feng)頭（作用：絕緣）、防爆(bao)盒組成的(de)(de)(de)。加(jia)熱(re)(re)管(guan)在工作中低溫流(liu)(liu)體介(jie)質(zhi)(zhi)通(tong)過管(guan)道在壓(ya)力(li)作用下進入(ru)其輸入(ru)口，沿著電加(jia)熱(re)(re)容器(qi)內部特定換(huan)熱(re)(re)流(liu)(liu)道，運用空(kong)氣(qi)電熱(re)(re)管(guan)的(de)(de)(de)流(liu)(liu)體熱(re)(re)力(li)學原理設(she)計的(de)(de)(de)路徑，帶走(zou)空(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)(re)管(guan)中的(de)(de)(de)電熱(re)(re)元件工作中所(suo)產生的(de)(de)(de)高溫熱(re)(re)能量，使空(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)(re)管(guan)被(bei)加(jia)熱(re)(re)介(jie)質(zhi)(zhi)溫度升高，加(jia)熱(re)(re)管(guan)出口得到工藝要求的(de)(de)(de)高溫介(jie)質(zhi)(zhi)。

產品特點

1.升(sheng)溫(wen)時間在(zai)試驗電壓下(xia)，元件從(cong)環境溫(wen)度(du)升(sheng)至試驗溫(wen)度(du)時間應不大(da)于(yu)15min

2.額(e)定功(gong)率(lv)(lv)(lv)偏差在充分(fen)發熱(re)的(de)條件下，元件的(de)額(e)定功(gong)率(lv)(lv)(lv)的(de)偏差應不超過下列規定的(de)范圍;對額(e)定功(gong)率(lv)(lv)(lv)小于等于100W的(de)元件為:士10%。對額(e)定功(gong)率(lv)(lv)(lv)大于100W的(de)元件為+5%~- 10%或(huo)10W,取兩者中的(de)較(jiao)大值。

3.泄露(lu)(lu)電流(liu)冷態泄露(lu)(lu)電流(liu)以及水壓和密封試驗(yan)(yan)后泄露(lu)(lu)電流(liu)應不超過(guo)0.5mA工作(zuo)溫度(du)(du)下的(de)熱(re)(re)態泄露(lu)(lu)電流(liu)應不超過(guo)公(gong)式(shi)中的(de)計算值，但不超過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱(re)(re)態泄露(lu)(lu)電流(liu)mA t-發熱(re)(re)長度(du)(du)mm T-工作(zuo)溫度(du)(du)C多(duo)個元件(jian)串聯到電源中時(shi)，應以這(zhe)一(yi)組元件(jian)為 整體進行泄露(lu)(lu)電流(liu)試驗(yan)(yan)。

4. 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)出廠檢(jian)驗時冷態(tai)(tai)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)應不小(xiao)于(yu)50MQ密(mi)封(feng)試(shi)驗后(hou)，長期存放或(huo)者(zhe)使用后(hou)的絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)應不消與(yu)MQ工作(zuo)(zuo)溫度下的熱(re)態(tai)(tai)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)應不低于(yu)公式中(zhong)的計(ji)算值(zhi)，但應不小(xiao)于(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態(tai)(tai)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)MQ t一-發 熱(re)長度mmT一工作(zuo)(zuo)溫度°C

5.絕(jue)緣耐(nai)壓強度(du)元件應在(zai)規定的試(shi)驗(yan)條件和(he)(he)試(shi)驗(yan)電壓下保持(chi)1min,而無閃絡和(he)(he)擊穿現象

6.經受通(tong)斷電(dian)的(de)能力元件應能在(zai)規定的(de)試驗條(tiao)件下經歷2000次通(tong)斷電(dian)試驗，而(er)不發生損壞(huai)