防(fang)(fang)爆(bao)加(jia)熱(re)(re)管(guan)是(shi)一種消(xiao)耗(hao)電能轉換(huan)(huan)為(wei)熱(re)(re)能，來對(dui)需加(jia)熱(re)(re)物料進(jin)行(xing)加(jia)熱(re)(re)。防(fang)(fang)爆(bao)加(jia)熱(re)(re)管(guan)是(shi)由外(wai)到里外(wai)殼（不(bu)繡鋼/碳鋼/銅/鈦材(cai)等(deng)、發(fa)熱(re)(re)絲（鎳鉻鉛(qian)合金(jin)）、填充物（氧化鎂(mei)，作用是(shi)導熱(re)(re)、絕(jue)緣(yuan)）、外(wai)殼（不(bu)繡鋼、碳鋼、鈦材(cai)、銅  等(deng)）、陶瓷(ci)封頭（作用：絕(jue)緣(yuan)）、防(fang)(fang)爆(bao)盒組(zu)成(cheng)的(de)。加(jia)熱(re)(re)管(guan)在工(gong)作中(zhong)低溫(wen)流(liu)體(ti)介(jie)質通過管(guan)道(dao)在壓力作用下進(jin)入其輸入口(kou)，沿(yan)著(zhu)電加(jia)熱(re)(re)容器內部(bu)特(te)定換(huan)(huan)熱(re)(re)流(liu)道(dao)，運用空(kong)(kong)氣電熱(re)(re)管(guan)的(de)流(liu)體(ti)熱(re)(re)力學原理(li)設計的(de)路徑，帶走空(kong)(kong)氣加(jia)熱(re)(re)管(guan)中(zhong)的(de)電熱(re)(re)元件(jian)工(gong)作中(zhong)所(suo)產生的(de)高溫(wen)熱(re)(re)能量(liang)，使(shi)空(kong)(kong)氣加(jia)熱(re)(re)管(guan)被加(jia)熱(re)(re)介(jie)質溫(wen)度升高，加(jia)熱(re)(re)管(guan)出口(kou)得到工(gong)藝要求的(de)高溫(wen)介(jie)質。

產品特(te)點

1.升溫時間在試驗電壓下(xia)，元件從環境溫度升至試驗溫度時間應不大(da)于15min

2.額定(ding)功(gong)率偏差在充分(fen)發熱的條件下，元件的額定(ding)功(gong)率的偏差應不超過下列規定(ding)的范圍;對額定(ding)功(gong)率小(xiao)于(yu)等(deng)于(yu)100W的元件為:士10%。對額定(ding)功(gong)率大于(yu)100W的元件為+5%~- 10%或10W,取兩者(zhe)中(zhong)的較大值。

3.泄露(lu)電(dian)(dian)流冷(leng)態泄露(lu)電(dian)(dian)流以(yi)及水壓(ya)和密(mi)封試(shi)驗后泄露(lu)電(dian)(dian)流應不超過0.5mA工作溫(wen)度下(xia)的熱(re)態泄露(lu)電(dian)(dian)流應不超過公式中(zhong)(zhong)的計算值，但不超過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱(re)態泄露(lu)電(dian)(dian)流mA t-發熱(re)長(chang)度mm T-工作溫(wen)度C多個元件(jian)串(chuan)聯到(dao)電(dian)(dian)源中(zhong)(zhong)時，應以(yi)這一組元件(jian)為 整體進行泄露(lu)電(dian)(dian)流試(shi)驗。

4. 絕(jue)(jue)緣電阻(zu)(zu)出廠(chang)檢驗時(shi)冷態(tai)絕(jue)(jue)緣電阻(zu)(zu)應不(bu)小(xiao)于50MQ密封(feng)試驗后(hou)，長(chang)期存放或者使(shi)用(yong)后(hou)的絕(jue)(jue)緣電阻(zu)(zu)應不(bu)消與MQ工(gong)作溫度下的熱(re)態(tai)絕(jue)(jue)緣電阻(zu)(zu)應不(bu)低于公式(shi)中的計算(suan)值，但(dan)應不(bu)小(xiao)于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態(tai)絕(jue)(jue)緣電阻(zu)(zu)MQ t一(yi)-發 熱(re)長(chang)度mmT一(yi)工(gong)作溫度°C

5.絕緣耐壓強度元件應(ying)在規(gui)定的試(shi)驗(yan)條件和試(shi)驗(yan)電(dian)壓下保持(chi)1min,而(er)無閃絡和擊(ji)穿現象

6.經(jing)受(shou)通(tong)斷(duan)電(dian)的(de)能力(li)元件應能在(zai)規定的(de)試(shi)驗條件下(xia)經(jing)歷2000次(ci)通(tong)斷(duan)電(dian)試(shi)驗，而不發(fa)生損(sun)壞(huai)