防爆加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)是(shi)(shi)一(yi)種消耗電能轉換為熱(re)(re)(re)能，來對需加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)物(wu)料進行加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)。防爆加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)是(shi)(shi)由外到(dao)里外殼(ke)（不(bu)繡鋼/碳鋼/銅(tong)/鈦(tai)(tai)材等、發(fa)熱(re)(re)(re)絲（鎳(nie)鉻鉛合金）、填充物(wu)（氧(yang)化鎂，作用是(shi)(shi)導(dao)熱(re)(re)(re)、絕緣）、外殼(ke)（不(bu)繡鋼、碳鋼、鈦(tai)(tai)材、銅(tong)  等）、陶瓷封頭（作用：絕緣）、防爆盒組成的。加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)在工(gong)(gong)作中(zhong)低溫(wen)流(liu)體介質(zhi)通過管(guan)道(dao)在壓力作用下進入其輸入口(kou)，沿著電加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)容(rong)器內部特定換熱(re)(re)(re)流(liu)道(dao)，運用空(kong)氣(qi)電熱(re)(re)(re)管(guan)的流(liu)體熱(re)(re)(re)力學原理設(she)計的路(lu)徑，帶走空(kong)氣(qi)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)中(zhong)的電熱(re)(re)(re)元件工(gong)(gong)作中(zhong)所(suo)產生的高溫(wen)熱(re)(re)(re)能量，使(shi)空(kong)氣(qi)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)被(bei)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)介質(zhi)溫(wen)度升(sheng)高，加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)出口(kou)得到(dao)工(gong)(gong)藝要求的高溫(wen)介質(zhi)。

產品(pin)特點

1.升溫(wen)時間(jian)(jian)在試驗電壓(ya)下，元(yuan)件從環境溫(wen)度(du)升至(zhi)試驗溫(wen)度(du)時間(jian)(jian)應(ying)不(bu)大(da)于15min

2.額(e)定(ding)功(gong)(gong)率(lv)(lv)偏差在充分發(fa)熱的(de)條件下(xia)，元(yuan)件的(de)額(e)定(ding)功(gong)(gong)率(lv)(lv)的(de)偏差應不超過下(xia)列(lie)規(gui)定(ding)的(de)范圍;對額(e)定(ding)功(gong)(gong)率(lv)(lv)小(xiao)于等于100W的(de)元(yuan)件為:士10%。對額(e)定(ding)功(gong)(gong)率(lv)(lv)大于100W的(de)元(yuan)件為+5%~- 10%或10W,取(qu)兩(liang)者中的(de)較大值。

3.泄露(lu)電(dian)(dian)流冷(leng)態泄露(lu)電(dian)(dian)流以(yi)及水壓和密封試(shi)驗(yan)后泄露(lu)電(dian)(dian)流應不超(chao)過(guo)0.5mA工(gong)作溫度(du)下的熱態泄露(lu)電(dian)(dian)流應不超(chao)過(guo)公式中的計算(suan)值，但不超(chao)過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱態泄露(lu)電(dian)(dian)流mA t-發熱長度(du)mm T-工(gong)作溫度(du)C多個元件(jian)串聯(lian)到電(dian)(dian)源(yuan)中時，應以(yi)這一(yi)組元件(jian)為 整體(ti)進(jin)行泄露(lu)電(dian)(dian)流試(shi)驗(yan)。

4. 絕緣電阻(zu)出廠檢驗時(shi)冷態(tai)絕緣電阻(zu)應不小(xiao)于50MQ密封試驗后，長(chang)(chang)期(qi)存放或者使用后的(de)絕緣電阻(zu)應不消與MQ工作溫度下的(de)熱(re)態(tai)絕緣電阻(zu)應不低(di)于公式中的(de)計算值，但應不小(xiao)于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態(tai)絕緣電阻(zu)MQ t一-發 熱(re)長(chang)(chang)度mmT一工作溫度°C

5.絕緣耐壓強度(du)元件應在(zai)規定(ding)的試(shi)驗(yan)條件和試(shi)驗(yan)電壓下保(bao)持1min,而無閃(shan)絡和擊穿現(xian)象

6.經受通斷電(dian)的能力元件應能在規定的試(shi)驗(yan)條件下經歷2000次通斷電(dian)試(shi)驗(yan)，而(er)不發生損壞