防爆加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)是(shi)一種消耗電能(neng)(neng)轉(zhuan)換為熱(re)(re)(re)(re)能(neng)(neng)，來對需(xu)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)物料進行(xing)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)。防爆加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)是(shi)由(you)外到里外殼(ke)（不繡鋼/碳鋼/銅/鈦材等(deng)、發熱(re)(re)(re)(re)絲（鎳鉻鉛合金）、填充物（氧化鎂，作(zuo)用是(shi)導熱(re)(re)(re)(re)、絕(jue)緣）、外殼(ke)（不繡鋼、碳鋼、鈦材、銅  等(deng)）、陶瓷封(feng)頭（作(zuo)用：絕(jue)緣）、防爆盒組(zu)成的。加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)在(zai)工作(zuo)中(zhong)低溫流體介(jie)(jie)質通過管(guan)(guan)道在(zai)壓力(li)(li)作(zuo)用下進入其輸入口，沿著(zhu)電加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)容器內部特定換熱(re)(re)(re)(re)流道，運用空(kong)氣電熱(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)的流體熱(re)(re)(re)(re)力(li)(li)學原理設計的路徑，帶走(zou)空(kong)氣加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)中(zhong)的電熱(re)(re)(re)(re)元件工作(zuo)中(zhong)所產生的高溫熱(re)(re)(re)(re)能(neng)(neng)量，使空(kong)氣加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)被加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)介(jie)(jie)質溫度升(sheng)高，加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)(guan)出口得到工藝要求(qiu)的高溫介(jie)(jie)質。

產品特(te)點

1.升(sheng)溫時間在試驗(yan)電壓(ya)下(xia)，元件從環境溫度升(sheng)至試驗(yan)溫度時間應不(bu)大于15min

2.額(e)定功(gong)率(lv)偏差在充分發(fa)熱的(de)條(tiao)件下，元件的(de)額(e)定功(gong)率(lv)的(de)偏差應不超過下列規定的(de)范(fan)圍(wei);對額(e)定功(gong)率(lv)小于(yu)等于(yu)100W的(de)元件為(wei):士10%。對額(e)定功(gong)率(lv)大(da)于(yu)100W的(de)元件為(wei)+5%~- 10%或10W,取兩者中的(de)較大(da)值(zhi)。

3.泄(xie)露電(dian)流冷態泄(xie)露電(dian)流以及水壓和密封試(shi)(shi)驗(yan)(yan)后泄(xie)露電(dian)流應(ying)不超過0.5mA工作(zuo)溫(wen)度(du)(du)下的熱(re)態泄(xie)露電(dian)流應(ying)不超過公式中的計(ji)算值，但不超過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱(re)態泄(xie)露電(dian)流mA t-發熱(re)長度(du)(du)mm T-工作(zuo)溫(wen)度(du)(du)C多個(ge)元件(jian)串聯到電(dian)源(yuan)中時，應(ying)以這一組(zu)元件(jian)為 整體進行泄(xie)露電(dian)流試(shi)(shi)驗(yan)(yan)。

4. 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)出廠檢驗時冷(leng)態絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)不小于50MQ密封試驗后(hou)，長(chang)期存放或者(zhe)使用(yong)后(hou)的絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)不消(xiao)與(yu)MQ工(gong)作溫度下的熱態絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)不低于公式(shi)中的計(ji)算值(zhi)，但應(ying)不小于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱態絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)MQ t一(yi)-發 熱長(chang)度mmT一(yi)工(gong)作溫度°C

5.絕(jue)緣耐壓強度元件應在(zai)規定的(de)試(shi)驗條件和(he)試(shi)驗電壓下(xia)保(bao)持1min,而無閃絡和(he)擊穿現(xian)象

6.經受通斷(duan)電的能力元件應能在規定的試(shi)驗條件下經歷(li)2000次(ci)通斷(duan)電試(shi)驗，而不發生損壞