防爆(bao)加熱(re)(re)管(guan)(guan)是(shi)一種(zhong)消耗電(dian)能(neng)轉換(huan)為熱(re)(re)能(neng)，來對需加熱(re)(re)物(wu)料進行加熱(re)(re)。防爆(bao)加熱(re)(re)管(guan)(guan)是(shi)由外(wai)到里(li)外(wai)殼（不繡鋼(gang)(gang)/碳(tan)鋼(gang)(gang)/銅/鈦材等(deng)、發熱(re)(re)絲(si)（鎳鉻鉛合金）、填充物(wu)（氧化鎂，作用(yong)(yong)是(shi)導熱(re)(re)、絕緣）、外(wai)殼（不繡鋼(gang)(gang)、碳(tan)鋼(gang)(gang)、鈦材、銅  等(deng)）、陶瓷封頭（作用(yong)(yong)：絕緣）、防爆(bao)盒組成的。加熱(re)(re)管(guan)(guan)在(zai)工(gong)作中低溫流(liu)體介質通(tong)過管(guan)(guan)道(dao)在(zai)壓力(li)作用(yong)(yong)下(xia)進入其輸入口，沿著電(dian)加熱(re)(re)容器內部特定(ding)換(huan)熱(re)(re)流(liu)道(dao)，運用(yong)(yong)空(kong)氣(qi)電(dian)熱(re)(re)管(guan)(guan)的流(liu)體熱(re)(re)力(li)學原理設計的路(lu)徑，帶走空(kong)氣(qi)加熱(re)(re)管(guan)(guan)中的電(dian)熱(re)(re)元件工(gong)作中所(suo)產生的高(gao)溫熱(re)(re)能(neng)量，使空(kong)氣(qi)加熱(re)(re)管(guan)(guan)被加熱(re)(re)介質溫度(du)升高(gao)，加熱(re)(re)管(guan)(guan)出口得到工(gong)藝要求的高(gao)溫介質。

產品(pin)特(te)點(dian)

1.升溫時間在(zai)試驗(yan)電壓下，元件(jian)從環境溫度(du)升至試驗(yan)溫度(du)時間應不大于15min

2.額(e)定(ding)(ding)(ding)功率偏(pian)(pian)差在充分發熱的(de)條件(jian)(jian)下，元件(jian)(jian)的(de)額(e)定(ding)(ding)(ding)功率的(de)偏(pian)(pian)差應不超過下列規定(ding)(ding)(ding)的(de)范圍;對(dui)額(e)定(ding)(ding)(ding)功率小于(yu)等于(yu)100W的(de)元件(jian)(jian)為:士(shi)10%。對(dui)額(e)定(ding)(ding)(ding)功率大(da)于(yu)100W的(de)元件(jian)(jian)為+5%~- 10%或10W,取兩者中的(de)較大(da)值。

3.泄露(lu)(lu)電流(liu)冷(leng)態泄露(lu)(lu)電流(liu)以(yi)及水壓和密封試驗后泄露(lu)(lu)電流(liu)應不超過0.5mA工作(zuo)溫(wen)度下的(de)熱態泄露(lu)(lu)電流(liu)應不超過公式(shi)中的(de)計算值，但不超過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱態泄露(lu)(lu)電流(liu)mA t-發熱長度mm T-工作(zuo)溫(wen)度C多個(ge)元件串(chuan)聯到(dao)電源中時，應以(yi)這(zhe)一組元件為 整體進行泄露(lu)(lu)電流(liu)試驗。

4. 絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)出廠檢驗時冷態絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)應(ying)不小于50MQ密封試驗后(hou)，長期存放或者使用后(hou)的(de)絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)應(ying)不消與MQ工(gong)作溫度下的(de)熱態絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)應(ying)不低于公式(shi)中(zhong)的(de)計算值(zhi)，但應(ying)不小于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱態絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)MQ t一(yi)-發 熱長度mmT一(yi)工(gong)作溫度°C

5.絕緣(yuan)耐壓強度元件應在(zai)規定的試驗條(tiao)件和試驗電壓下保持1min,而無閃絡和擊穿現象

6.經(jing)受通斷電的能力元件應能在規定(ding)的試(shi)驗條件下經(jing)歷2000次通斷電試(shi)驗，而不發生損(sun)壞(huai)