防爆(bao)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)一種消(xiao)耗電(dian)(dian)(dian)能(neng)轉(zhuan)換(huan)(huan)為熱(re)(re)(re)(re)(re)能(neng)，來對需加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)物料(liao)進(jin)(jin)行加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)。防爆(bao)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)由外到里外殼（不(bu)繡鋼(gang)(gang)/碳(tan)鋼(gang)(gang)/銅(tong)/鈦材(cai)(cai)等、發熱(re)(re)(re)(re)(re)絲（鎳鉻鉛(qian)合金）、填充物（氧化鎂，作(zuo)(zuo)用(yong)是(shi)導熱(re)(re)(re)(re)(re)、絕緣(yuan)(yuan)）、外殼（不(bu)繡鋼(gang)(gang)、碳(tan)鋼(gang)(gang)、鈦材(cai)(cai)、銅(tong)  等）、陶瓷封頭（作(zuo)(zuo)用(yong)：絕緣(yuan)(yuan)）、防爆(bao)盒組成的(de)(de)。加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)在工(gong)作(zuo)(zuo)中低(di)溫(wen)流體介(jie)(jie)質通過管(guan)道在壓(ya)力作(zuo)(zuo)用(yong)下(xia)進(jin)(jin)入(ru)其(qi)輸入(ru)口，沿著電(dian)(dian)(dian)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)容器內部特定換(huan)(huan)熱(re)(re)(re)(re)(re)流道，運用(yong)空(kong)氣電(dian)(dian)(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)的(de)(de)流體熱(re)(re)(re)(re)(re)力學原理設計的(de)(de)路徑，帶走空(kong)氣加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)中的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)元件工(gong)作(zuo)(zuo)中所產生的(de)(de)高溫(wen)熱(re)(re)(re)(re)(re)能(neng)量，使(shi)空(kong)氣加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)被加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)介(jie)(jie)質溫(wen)度升高，加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)出口得到工(gong)藝要求的(de)(de)高溫(wen)介(jie)(jie)質。

產品(pin)特點

1.升(sheng)溫(wen)時間在試驗電壓下，元(yuan)件從環境溫(wen)度升(sheng)至試驗溫(wen)度時間應不(bu)大于15min

2.額(e)定功(gong)(gong)率偏差在充分發(fa)熱的(de)條件下(xia)，元件的(de)額(e)定功(gong)(gong)率的(de)偏差應不超過下(xia)列規定的(de)范(fan)圍;對額(e)定功(gong)(gong)率小于(yu)等于(yu)100W的(de)元件為:士10%。對額(e)定功(gong)(gong)率大于(yu)100W的(de)元件為+5%~- 10%或(huo)10W,取(qu)兩(liang)者(zhe)中的(de)較(jiao)大值。

3.泄露(lu)(lu)電(dian)流(liu)冷態(tai)泄露(lu)(lu)電(dian)流(liu)以及(ji)水(shui)壓和密封試驗(yan)后泄露(lu)(lu)電(dian)流(liu)應不(bu)(bu)超過(guo)0.5mA工(gong)作溫度(du)下的熱(re)態(tai)泄露(lu)(lu)電(dian)流(liu)應不(bu)(bu)超過(guo)公(gong)式中的計算值，但(dan)不(bu)(bu)超過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱(re)態(tai)泄露(lu)(lu)電(dian)流(liu)mA t-發(fa)熱(re)長度(du)mm T-工(gong)作溫度(du)C多個元件(jian)串(chuan)聯到電(dian)源中時，應以這一(yi)組元件(jian)為 整體進行泄露(lu)(lu)電(dian)流(liu)試驗(yan)。

4. 絕(jue)(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)出(chu)廠檢驗時冷態(tai)絕(jue)(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)不(bu)小(xiao)于50MQ密封試(shi)驗后(hou)，長期存放或者(zhe)使用后(hou)的絕(jue)(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)不(bu)消與MQ工(gong)作(zuo)溫度下的熱(re)(re)態(tai)絕(jue)(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)不(bu)低于公式中的計(ji)算值(zhi)，但應(ying)不(bu)小(xiao)于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)(re)態(tai)絕(jue)(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)MQ t一-發 熱(re)(re)長度mmT一工(gong)作(zuo)溫度°C

5.絕緣耐(nai)壓(ya)強度元件應在規(gui)定的試(shi)驗(yan)條件和試(shi)驗(yan)電壓(ya)下保持1min,而無閃絡和擊穿現(xian)象

6.經(jing)受通斷(duan)電的(de)能力元(yuan)件應能在(zai)規定的(de)試驗條件下經(jing)歷2000次通斷(duan)電試驗，而不發(fa)生損壞