防(fang)(fang)爆加(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)是一種(zhong)消耗(hao)電能(neng)轉換(huan)為熱(re)(re)能(neng)，來(lai)對需(xu)加(jia)熱(re)(re)物料進行加(jia)熱(re)(re)。防(fang)(fang)爆加(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)是由外(wai)到(dao)里(li)外(wai)殼（不繡鋼/碳鋼/銅(tong)/鈦材等、發熱(re)(re)絲（鎳(nie)鉻鉛合金(jin)）、填充物（氧化(hua)鎂，作用是導熱(re)(re)、絕緣）、外(wai)殼（不繡鋼、碳鋼、鈦材、銅(tong)  等）、陶瓷封頭（作用：絕緣）、防(fang)(fang)爆盒組成(cheng)的。加(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)在工作中(zhong)低溫(wen)流體介質通過管(guan)(guan)道在壓力作用下進入其(qi)輸入口(kou)，沿著電加(jia)熱(re)(re)容器內部特(te)定換(huan)熱(re)(re)流道，運用空(kong)(kong)氣(qi)電熱(re)(re)管(guan)(guan)的流體熱(re)(re)力學原理設計的路徑，帶走(zou)空(kong)(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)中(zhong)的電熱(re)(re)元件工作中(zhong)所(suo)產生的高(gao)(gao)溫(wen)熱(re)(re)能(neng)量，使空(kong)(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)被加(jia)熱(re)(re)介質溫(wen)度(du)升高(gao)(gao)，加(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)出口(kou)得到(dao)工藝要求(qiu)的高(gao)(gao)溫(wen)介質。

產品特點

1.升(sheng)溫(wen)(wen)時(shi)間在試驗(yan)電壓下，元(yuan)件從(cong)環境溫(wen)(wen)度升(sheng)至試驗(yan)溫(wen)(wen)度時(shi)間應不大于(yu)15min

2.額定功(gong)率偏差在(zai)充(chong)分發熱的(de)(de)(de)(de)條(tiao)件(jian)下，元件(jian)的(de)(de)(de)(de)額定功(gong)率的(de)(de)(de)(de)偏差應(ying)不超(chao)過下列規(gui)定的(de)(de)(de)(de)范圍;對額定功(gong)率小于等于100W的(de)(de)(de)(de)元件(jian)為(wei):士(shi)10%。對額定功(gong)率大(da)于100W的(de)(de)(de)(de)元件(jian)為(wei)+5%~- 10%或10W,取兩者中的(de)(de)(de)(de)較大(da)值。

3.泄(xie)露(lu)(lu)(lu)(lu)電流冷態泄(xie)露(lu)(lu)(lu)(lu)電流以(yi)及水壓和密封試驗(yan)后(hou)泄(xie)露(lu)(lu)(lu)(lu)電流應不(bu)超過0.5mA工作溫(wen)度(du)下(xia)的熱態泄(xie)露(lu)(lu)(lu)(lu)電流應不(bu)超過公式中的計算值，但不(bu)超過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱態泄(xie)露(lu)(lu)(lu)(lu)電流mA t-發熱長度(du)mm T-工作溫(wen)度(du)C多個(ge)元(yuan)件串聯到電源中時，應以(yi)這一組(zu)元(yuan)件為 整體進(jin)行泄(xie)露(lu)(lu)(lu)(lu)電流試驗(yan)。

4. 絕(jue)緣電(dian)(dian)阻出(chu)廠檢驗時冷態(tai)(tai)絕(jue)緣電(dian)(dian)阻應不小于(yu)50MQ密(mi)封試(shi)驗后，長期(qi)存(cun)放或者使(shi)用(yong)后的絕(jue)緣電(dian)(dian)阻應不消與MQ工(gong)作溫度下的熱(re)(re)態(tai)(tai)絕(jue)緣電(dian)(dian)阻應不低于(yu)公式中的計算(suan)值(zhi)，但應不小于(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)(re)態(tai)(tai)絕(jue)緣電(dian)(dian)阻MQ t一-發 熱(re)(re)長度mmT一工(gong)作溫度°C

5.絕緣耐壓(ya)強度(du)元(yuan)件應在規定的試(shi)驗條件和(he)試(shi)驗電壓(ya)下保持1min,而無閃絡和(he)擊穿現象

6.經受通斷電的能力元件應能在規(gui)定的試驗條件下經歷2000次通斷電試驗，而不(bu)發生損壞