防爆(bao)(bao)加(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)是一種消耗電能轉(zhuan)換為熱(re)(re)(re)能，來對需加(jia)熱(re)(re)(re)物(wu)料(liao)進行加(jia)熱(re)(re)(re)。防爆(bao)(bao)加(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)是由外到里(li)外殼(ke)（不(bu)繡(xiu)鋼/碳鋼/銅/鈦材等、發熱(re)(re)(re)絲（鎳鉻鉛合金）、填充(chong)物(wu)（氧化鎂，作用(yong)是導熱(re)(re)(re)、絕(jue)緣）、外殼(ke)（不(bu)繡(xiu)鋼、碳鋼、鈦材、銅  等）、陶瓷封頭（作用(yong)：絕(jue)緣）、防爆(bao)(bao)盒組成(cheng)的(de)(de)。加(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)在工作中低溫流體介(jie)質通(tong)過管(guan)道(dao)在壓(ya)力作用(yong)下(xia)進入其輸(shu)入口，沿著電加(jia)熱(re)(re)(re)容(rong)器(qi)內部特定換熱(re)(re)(re)流道(dao)，運用(yong)空氣(qi)電熱(re)(re)(re)管(guan)的(de)(de)流體熱(re)(re)(re)力學原理設計的(de)(de)路徑，帶走空氣(qi)加(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)中的(de)(de)電熱(re)(re)(re)元件工作中所產生(sheng)的(de)(de)高(gao)溫熱(re)(re)(re)能量(liang)，使空氣(qi)加(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)被加(jia)熱(re)(re)(re)介(jie)質溫度升(sheng)高(gao)，加(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)出口得到工藝要求的(de)(de)高(gao)溫介(jie)質。

產品特點

1.升(sheng)溫時間在試驗電壓下，元件從環境(jing)溫度(du)升(sheng)至試驗溫度(du)時間應不大于15min

2.額定(ding)(ding)功率(lv)(lv)偏差(cha)在充分發熱的(de)條(tiao)件(jian)下(xia)，元(yuan)件(jian)的(de)額定(ding)(ding)功率(lv)(lv)的(de)偏差(cha)應(ying)不(bu)超過下(xia)列規(gui)定(ding)(ding)的(de)范圍(wei);對額定(ding)(ding)功率(lv)(lv)小于等(deng)于100W的(de)元(yuan)件(jian)為:士10%。對額定(ding)(ding)功率(lv)(lv)大于100W的(de)元(yuan)件(jian)為+5%~- 10%或10W,取(qu)兩者中的(de)較大值。

3.泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)冷態(tai)泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)以(yi)及水壓和密封試(shi)驗后(hou)泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)應不(bu)超過(guo)0.5mA工(gong)作溫度(du)(du)下的熱(re)態(tai)泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)應不(bu)超過(guo)公式中的計算值(zhi)，但不(bu)超過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱(re)態(tai)泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)mA t-發(fa)熱(re)長(chang)度(du)(du)mm T-工(gong)作溫度(du)(du)C多(duo)個元件串聯到電(dian)(dian)源中時，應以(yi)這一組元件為 整體(ti)進行泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)試(shi)驗。

4. 絕緣電(dian)阻(zu)出廠檢驗(yan)時冷態絕緣電(dian)阻(zu)應(ying)不小于(yu)50MQ密封試驗(yan)后，長期存放或者使用后的(de)絕緣電(dian)阻(zu)應(ying)不消與MQ工作(zuo)溫(wen)度(du)下的(de)熱(re)態絕緣電(dian)阻(zu)應(ying)不低于(yu)公式中的(de)計算值，但應(ying)不小于(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態絕緣電(dian)阻(zu)MQ t一(yi)-發 熱(re)長度(du)mmT一(yi)工作(zuo)溫(wen)度(du)°C

5.絕(jue)緣(yuan)耐壓強度元件應在規定的試驗(yan)(yan)條件和試驗(yan)(yan)電(dian)壓下保持1min,而無閃(shan)絡和擊(ji)穿(chuan)現象

6.經受通斷電的能力元件應能在規定的試(shi)驗條件下經歷2000次(ci)通斷電試(shi)驗，而不發生(sheng)損壞