防爆(bao)加(jia)熱(re)管是一(yi)種消耗(hao)電能轉換為熱(re)能，來對(dui)需(xu)加(jia)熱(re)物料進行(xing)加(jia)熱(re)。防爆(bao)加(jia)熱(re)管是由(you)外到里外殼(ke)(ke)（不(bu)繡(xiu)鋼(gang)/碳(tan)鋼(gang)/銅/鈦材等、發熱(re)絲（鎳鉻(ge)鉛(qian)合(he)金）、填充物（氧化鎂，作用(yong)(yong)是導熱(re)、絕緣(yuan)(yuan)）、外殼(ke)(ke)（不(bu)繡(xiu)鋼(gang)、碳(tan)鋼(gang)、鈦材、銅  等）、陶瓷封頭（作用(yong)(yong)：絕緣(yuan)(yuan)）、防爆(bao)盒組(zu)成(cheng)的。加(jia)熱(re)管在工作中低溫流(liu)(liu)體(ti)介(jie)質(zhi)通過管道在壓(ya)力作用(yong)(yong)下進入其輸入口，沿著(zhu)電加(jia)熱(re)容器內部(bu)特定(ding)換熱(re)流(liu)(liu)道，運用(yong)(yong)空(kong)(kong)氣(qi)電熱(re)管的流(liu)(liu)體(ti)熱(re)力學原理設計的路徑，帶(dai)走(zou)空(kong)(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)管中的電熱(re)元件工作中所產生的高溫熱(re)能量，使空(kong)(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)管被加(jia)熱(re)介(jie)質(zhi)溫度升高，加(jia)熱(re)管出口得到工藝要求(qiu)的高溫介(jie)質(zhi)。

產品(pin)特點

1.升溫時間(jian)在(zai)試(shi)驗電壓(ya)下，元件從環境溫度升至試(shi)驗溫度時間(jian)應不(bu)大于15min

2.額(e)定(ding)功率偏差在充分發(fa)熱的(de)(de)(de)條(tiao)件下(xia)，元(yuan)件的(de)(de)(de)額(e)定(ding)功率的(de)(de)(de)偏差應不超過下(xia)列規定(ding)的(de)(de)(de)范圍;對(dui)額(e)定(ding)功率小于(yu)等于(yu)100W的(de)(de)(de)元(yuan)件為(wei):士10%。對(dui)額(e)定(ding)功率大于(yu)100W的(de)(de)(de)元(yuan)件為(wei)+5%~- 10%或(huo)10W,取兩(liang)者中的(de)(de)(de)較(jiao)大值。

3.泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)冷(leng)態(tai)泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)以及水壓和密封試驗后(hou)泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)應不(bu)超(chao)過(guo)(guo)0.5mA工作溫(wen)度下的熱態(tai)泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)應不(bu)超(chao)過(guo)(guo)公式(shi)中的計算值(zhi)，但不(bu)超(chao)過(guo)(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱態(tai)泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)mA t-發熱長度mm T-工作溫(wen)度C多(duo)個元件串聯到電(dian)(dian)源中時，應以這一組元件為 整體進行泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)試驗。

4. 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)出廠檢驗時(shi)冷(leng)態絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)應不小(xiao)于50MQ密封試驗后，長期存放或(huo)者使用后的(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)應不消與MQ工(gong)作(zuo)溫度下的(de)熱(re)態絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)應不低于公式中的(de)計算值，但應不小(xiao)于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)(zu)MQ t一(yi)(yi)-發(fa) 熱(re)長度mmT一(yi)(yi)工(gong)作(zuo)溫度°C

5.絕(jue)緣(yuan)耐壓強(qiang)度元(yuan)件應在(zai)規定(ding)的(de)試驗條件和試驗電壓下保持1min,而(er)無閃絡(luo)和擊(ji)穿現象

6.經受通斷電(dian)的能力元件應(ying)能在(zai)規定的試驗(yan)條件下(xia)經歷2000次通斷電(dian)試驗(yan)，而不發生損壞