防爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)一種消耗電(dian)能(neng)轉換為熱(re)(re)(re)(re)(re)能(neng)，來(lai)對需加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)物料(liao)進(jin)行(xing)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)。防爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)由外到(dao)里外殼（不繡(xiu)鋼(gang)/碳鋼(gang)/銅/鈦材等、發熱(re)(re)(re)(re)(re)絲(si)（鎳(nie)鉻鉛合金）、填充物（氧化鎂，作(zuo)用(yong)(yong)是(shi)導熱(re)(re)(re)(re)(re)、絕(jue)緣）、外殼（不繡(xiu)鋼(gang)、碳鋼(gang)、鈦材、銅  等）、陶瓷封頭（作(zuo)用(yong)(yong)：絕(jue)緣）、防爆(bao)盒(he)組成的(de)(de)。加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)在工(gong)作(zuo)中(zhong)低(di)溫(wen)流體(ti)介質通(tong)過管(guan)道(dao)在壓力作(zuo)用(yong)(yong)下進(jin)入其輸入口(kou)，沿著電(dian)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)容器內部(bu)特定換熱(re)(re)(re)(re)(re)流道(dao)，運用(yong)(yong)空(kong)氣電(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)的(de)(de)流體(ti)熱(re)(re)(re)(re)(re)力學原理設計(ji)的(de)(de)路徑，帶走空(kong)氣加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)中(zhong)的(de)(de)電(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)元件工(gong)作(zuo)中(zhong)所產生的(de)(de)高溫(wen)熱(re)(re)(re)(re)(re)能(neng)量，使(shi)空(kong)氣加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)被(bei)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)介質溫(wen)度升高，加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)出口(kou)得到(dao)工(gong)藝要求(qiu)的(de)(de)高溫(wen)介質。

產品(pin)特點

1.升(sheng)溫時(shi)間在試驗電(dian)壓下，元件從環(huan)境溫度升(sheng)至(zhi)試驗溫度時(shi)間應(ying)不大于15min

2.額定功(gong)(gong)率(lv)偏(pian)差(cha)(cha)在充分發熱的(de)(de)(de)條件下，元(yuan)件的(de)(de)(de)額定功(gong)(gong)率(lv)的(de)(de)(de)偏(pian)差(cha)(cha)應(ying)不(bu)超過下列規(gui)定的(de)(de)(de)范圍;對額定功(gong)(gong)率(lv)小于等于100W的(de)(de)(de)元(yuan)件為:士10%。對額定功(gong)(gong)率(lv)大(da)于100W的(de)(de)(de)元(yuan)件為+5%~- 10%或10W,取兩者中(zhong)的(de)(de)(de)較(jiao)大(da)值。

3.泄露(lu)電(dian)流(liu)(liu)冷態泄露(lu)電(dian)流(liu)(liu)以(yi)及(ji)水壓和密封試(shi)驗(yan)后泄露(lu)電(dian)流(liu)(liu)應不(bu)超過0.5mA工(gong)作溫度(du)(du)下的熱態泄露(lu)電(dian)流(liu)(liu)應不(bu)超過公式中(zhong)的計(ji)算值，但不(bu)超過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi)(yi) 熱態泄露(lu)電(dian)流(liu)(liu)mA t-發(fa)熱長度(du)(du)mm T-工(gong)作溫度(du)(du)C多個元(yuan)件串聯到電(dian)源(yuan)中(zhong)時，應以(yi)這一(yi)(yi)組元(yuan)件為(wei) 整體進(jin)行泄露(lu)電(dian)流(liu)(liu)試(shi)驗(yan)。

4. 絕緣電阻出廠檢驗(yan)時冷態絕緣電阻應不小(xiao)于50MQ密封試驗(yan)后，長期(qi)存放或者(zhe)使(shi)用后的絕緣電阻應不消(xiao)與MQ工(gong)作溫度(du)下的熱(re)態絕緣電阻應不低于公式(shi)中的計算值，但應不小(xiao)于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態絕緣電阻MQ t一(yi)-發 熱(re)長度(du)mmT一(yi)工(gong)作溫度(du)°C

5.絕緣耐壓強度元件應在(zai)規定的試(shi)驗條件和(he)試(shi)驗電壓下保(bao)持1min,而(er)無閃絡和(he)擊(ji)穿現象(xiang)

6.經(jing)受通斷(duan)電(dian)的能(neng)力元(yuan)件(jian)應能(neng)在規(gui)定的試驗條件(jian)下經(jing)歷(li)2000次通斷(duan)電(dian)試驗，而不發(fa)生(sheng)損壞