防(fang)爆(bao)加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)是(shi)一種消耗(hao)電(dian)(dian)能(neng)轉換為熱(re)(re)(re)能(neng)，來對需加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)物料進(jin)行(xing)加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)。防(fang)爆(bao)加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)是(shi)由外到(dao)里外殼(ke)（不繡鋼/碳鋼/銅/鈦材(cai)(cai)等(deng)、發熱(re)(re)(re)絲（鎳鉻鉛(qian)合金）、填充物（氧化(hua)鎂，作(zuo)(zuo)用是(shi)導熱(re)(re)(re)、絕(jue)緣）、外殼(ke)（不繡鋼、碳鋼、鈦材(cai)(cai)、銅  等(deng)）、陶瓷封(feng)頭（作(zuo)(zuo)用：絕(jue)緣）、防(fang)爆(bao)盒組成的(de)。加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)在(zai)工作(zuo)(zuo)中低溫(wen)流(liu)體(ti)(ti)介(jie)質(zhi)通過管(guan)道(dao)在(zai)壓力作(zuo)(zuo)用下進(jin)入(ru)其輸入(ru)口，沿(yan)著電(dian)(dian)加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)容(rong)器內(nei)部特(te)定換熱(re)(re)(re)流(liu)道(dao)，運用空(kong)氣(qi)電(dian)(dian)熱(re)(re)(re)管(guan)的(de)流(liu)體(ti)(ti)熱(re)(re)(re)力學原理設計的(de)路徑，帶走空(kong)氣(qi)加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)中的(de)電(dian)(dian)熱(re)(re)(re)元件工作(zuo)(zuo)中所產生的(de)高(gao)(gao)溫(wen)熱(re)(re)(re)能(neng)量(liang)，使空(kong)氣(qi)加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)被加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)介(jie)質(zhi)溫(wen)度升高(gao)(gao)，加(jia)(jia)(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)出(chu)口得(de)到(dao)工藝要求的(de)高(gao)(gao)溫(wen)介(jie)質(zhi)。

產品特(te)點

1.升溫(wen)時間(jian)在試(shi)驗電(dian)壓下，元件從環境溫(wen)度(du)升至試(shi)驗溫(wen)度(du)時間(jian)應不大于(yu)15min

2.額定功(gong)率偏差(cha)在充分發熱(re)的(de)條件下(xia)，元(yuan)件的(de)額定功(gong)率的(de)偏差(cha)應不超過下(xia)列(lie)規定的(de)范圍;對額定功(gong)率小于等于100W的(de)元(yuan)件為:士10%。對額定功(gong)率大于100W的(de)元(yuan)件為+5%~- 10%或10W,取(qu)兩者(zhe)中的(de)較(jiao)大值。

3.泄(xie)(xie)露(lu)電流(liu)(liu)冷態(tai)泄(xie)(xie)露(lu)電流(liu)(liu)以(yi)及水(shui)壓和密封試(shi)驗(yan)后(hou)泄(xie)(xie)露(lu)電流(liu)(liu)應不超(chao)過(guo)0.5mA工作溫(wen)度(du)下的(de)熱(re)(re)態(tai)泄(xie)(xie)露(lu)電流(liu)(liu)應不超(chao)過(guo)公式中(zhong)的(de)計算值，但不超(chao)過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱(re)(re)態(tai)泄(xie)(xie)露(lu)電流(liu)(liu)mA t-發(fa)熱(re)(re)長度(du)mm T-工作溫(wen)度(du)C多個元(yuan)件(jian)串聯(lian)到電源(yuan)中(zhong)時，應以(yi)這一組元(yuan)件(jian)為 整體進行泄(xie)(xie)露(lu)電流(liu)(liu)試(shi)驗(yan)。

4. 絕(jue)緣(yuan)(yuan)電(dian)阻(zu)出(chu)廠檢驗時冷態(tai)(tai)絕(jue)緣(yuan)(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)(ying)不(bu)小(xiao)于50MQ密封(feng)試驗后(hou)，長期存放(fang)或者使用(yong)后(hou)的絕(jue)緣(yuan)(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)(ying)不(bu)消(xiao)與MQ工作溫度(du)下(xia)的熱(re)態(tai)(tai)絕(jue)緣(yuan)(yuan)電(dian)阻(zu)應(ying)(ying)不(bu)低于公式中的計算值，但應(ying)(ying)不(bu)小(xiao)于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態(tai)(tai)絕(jue)緣(yuan)(yuan)電(dian)阻(zu)MQ t一-發 熱(re)長度(du)mmT一工作溫度(du)°C

5.絕緣耐(nai)壓強度元件應在規定(ding)的試驗(yan)條件和(he)試驗(yan)電壓下保(bao)持1min,而無閃絡和(he)擊穿現象

6.經(jing)受通斷(duan)電(dian)的能力元件應(ying)能在規定的試驗條件下經(jing)歷2000次通斷(duan)電(dian)試驗，而不(bu)發(fa)生損壞