防爆加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)一種消耗電(dian)能轉換為熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)能，來對需加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)物料進行加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)。防爆加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)由(you)外到里外殼（不(bu)繡(xiu)鋼(gang)/碳(tan)鋼(gang)/銅/鈦材(cai)等(deng)、發熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)絲(si)（鎳鉻(ge)鉛合(he)金）、填充物（氧化鎂，作(zuo)用是(shi)導熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)、絕緣）、外殼（不(bu)繡(xiu)鋼(gang)、碳(tan)鋼(gang)、鈦材(cai)、銅  等(deng)）、陶瓷封(feng)頭（作(zuo)用：絕緣）、防爆盒(he)組(zu)成的(de)。加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)在(zai)工作(zuo)中低(di)溫流(liu)體介(jie)質通過管(guan)道(dao)在(zai)壓(ya)力作(zuo)用下進入其輸(shu)入口，沿著電(dian)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)容(rong)器內部(bu)特(te)定換熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)流(liu)道(dao)，運用空(kong)氣(qi)電(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)的(de)流(liu)體熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)力學(xue)原理設計的(de)路徑，帶(dai)走空(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)中的(de)電(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)元件工作(zuo)中所產生的(de)高溫熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)能量，使空(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)被加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)介(jie)質溫度(du)升(sheng)高，加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)出口得到工藝要求的(de)高溫介(jie)質。

產品特(te)點

1.升溫(wen)時間在(zai)試驗(yan)電壓下，元件從(cong)環境溫(wen)度升至試驗(yan)溫(wen)度時間應不大(da)于15min

2.額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)功(gong)率(lv)偏差在充(chong)分發熱的(de)條件(jian)下，元(yuan)(yuan)件(jian)的(de)額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)功(gong)率(lv)的(de)偏差應不超過(guo)下列(lie)規定(ding)(ding)(ding)(ding)的(de)范圍;對(dui)(dui)額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)功(gong)率(lv)小于等(deng)于100W的(de)元(yuan)(yuan)件(jian)為:士10%。對(dui)(dui)額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)功(gong)率(lv)大于100W的(de)元(yuan)(yuan)件(jian)為+5%~- 10%或10W,取兩者中的(de)較大值。

3.泄露(lu)(lu)(lu)電流(liu)冷(leng)態泄露(lu)(lu)(lu)電流(liu)以(yi)及(ji)水壓和密封(feng)試驗后泄露(lu)(lu)(lu)電流(liu)應不(bu)超(chao)過0.5mA工(gong)作(zuo)溫度下的(de)熱(re)(re)態泄露(lu)(lu)(lu)電流(liu)應不(bu)超(chao)過公式中的(de)計算值，但不(bu)超(chao)過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱(re)(re)態泄露(lu)(lu)(lu)電流(liu)mA t-發(fa)熱(re)(re)長(chang)度mm T-工(gong)作(zuo)溫度C多(duo)個元(yuan)件串聯到電源中時，應以(yi)這一(yi)組元(yuan)件為 整(zheng)體進行泄露(lu)(lu)(lu)電流(liu)試驗。

4. 絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)出廠檢(jian)驗時冷態絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)應不小(xiao)于(yu)50MQ密封試驗后(hou)，長期(qi)存放或者使用后(hou)的絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)應不消(xiao)與MQ工作溫(wen)度下(xia)的熱(re)(re)態絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)應不低于(yu)公(gong)式中的計算(suan)值，但(dan)應不小(xiao)于(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)(re)態絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)MQ t一-發 熱(re)(re)長度mmT一工作溫(wen)度°C

5.絕緣耐壓強度元件(jian)應在規定的試驗條件(jian)和試驗電壓下保持1min,而無閃(shan)絡和擊穿現象

6.經(jing)受通斷(duan)電的(de)能力元件應(ying)能在規定的(de)試驗(yan)(yan)條件下經(jing)歷2000次通斷(duan)電試驗(yan)(yan)，而不(bu)發生損壞