防(fang)爆加熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)是(shi)一種消耗電能轉換為(wei)熱(re)(re)(re)能，來(lai)對需加熱(re)(re)(re)物(wu)料進行加熱(re)(re)(re)。防(fang)爆加熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)是(shi)由外到(dao)里外殼（不繡鋼(gang)/碳(tan)鋼(gang)/銅/鈦材(cai)等、發(fa)熱(re)(re)(re)絲（鎳鉻鉛合金）、填充物(wu)（氧(yang)化(hua)鎂，作(zuo)用(yong)是(shi)導熱(re)(re)(re)、絕緣）、外殼（不繡鋼(gang)、碳(tan)鋼(gang)、鈦材(cai)、銅  等）、陶瓷封頭（作(zuo)用(yong)：絕緣）、防(fang)爆盒組成的。加熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)在(zai)工作(zuo)中(zhong)低溫流體介(jie)質通過管(guan)(guan)道在(zai)壓(ya)力作(zuo)用(yong)下(xia)進入其輸入口(kou)，沿著電加熱(re)(re)(re)容器(qi)內部特(te)定(ding)換熱(re)(re)(re)流道，運用(yong)空氣(qi)電熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)的流體熱(re)(re)(re)力學(xue)原理設計的路徑，帶走(zou)空氣(qi)加熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)中(zhong)的電熱(re)(re)(re)元件(jian)工作(zuo)中(zhong)所產生的高(gao)溫熱(re)(re)(re)能量(liang)，使空氣(qi)加熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)被加熱(re)(re)(re)介(jie)質溫度(du)升高(gao)，加熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)出口(kou)得(de)到(dao)工藝要求的高(gao)溫介(jie)質。

產(chan)品特(te)點

1.升(sheng)溫(wen)時間在試(shi)驗電壓下，元件從環境(jing)溫(wen)度升(sheng)至試(shi)驗溫(wen)度時間應(ying)不大于15min

2.額(e)定功率(lv)偏差在充分發熱的(de)(de)條件下(xia)，元(yuan)(yuan)件的(de)(de)額(e)定功率(lv)的(de)(de)偏差應不超過下(xia)列規定的(de)(de)范圍;對額(e)定功率(lv)小于(yu)等于(yu)100W的(de)(de)元(yuan)(yuan)件為:士10%。對額(e)定功率(lv)大于(yu)100W的(de)(de)元(yuan)(yuan)件為+5%~- 10%或10W,取兩者中的(de)(de)較(jiao)大值。

3.泄(xie)露(lu)電(dian)(dian)流(liu)冷(leng)態(tai)泄(xie)露(lu)電(dian)(dian)流(liu)以及水壓和(he)密封試驗后泄(xie)露(lu)電(dian)(dian)流(liu)應不超(chao)過(guo)0.5mA工作(zuo)溫度下的(de)熱態(tai)泄(xie)露(lu)電(dian)(dian)流(liu)應不超(chao)過(guo)公(gong)式中(zhong)的(de)計(ji)算值(zhi)，但不超(chao)過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱態(tai)泄(xie)露(lu)電(dian)(dian)流(liu)mA t-發熱長度mm T-工作(zuo)溫度C多個(ge)元件串聯(lian)到電(dian)(dian)源中(zhong)時，應以這一組元件為 整(zheng)體進行泄(xie)露(lu)電(dian)(dian)流(liu)試驗。

4. 絕(jue)緣(yuan)電阻出(chu)廠檢(jian)驗(yan)時(shi)冷態絕(jue)緣(yuan)電阻應(ying)(ying)不小于(yu)(yu)50MQ密封試驗(yan)后，長(chang)期(qi)存放或(huo)者使(shi)用后的絕(jue)緣(yuan)電阻應(ying)(ying)不消與(yu)MQ工(gong)作(zuo)溫度(du)下的熱(re)態絕(jue)緣(yuan)電阻應(ying)(ying)不低于(yu)(yu)公式中的計算值，但應(ying)(ying)不小于(yu)(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態絕(jue)緣(yuan)電阻MQ t一-發 熱(re)長(chang)度(du)mmT一工(gong)作(zuo)溫度(du)°C

5.絕緣耐壓(ya)強度(du)元件應在規定的試驗條件和試驗電壓(ya)下保(bao)持1min,而無(wu)閃絡(luo)和擊穿(chuan)現(xian)象

6.經(jing)受通斷(duan)電的(de)能力元件應能在規定的(de)試驗條件下經(jing)歷2000次通斷(duan)電試驗，而(er)不(bu)發生(sheng)損壞