防爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)是一種消耗電能(neng)轉換為熱(re)(re)能(neng)，來(lai)對(dui)需加(jia)(jia)熱(re)(re)物料進(jin)行加(jia)(jia)熱(re)(re)。防爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)是由外(wai)到里外(wai)殼（不繡鋼(gang)/碳鋼(gang)/銅/鈦(tai)材等、發熱(re)(re)絲(si)（鎳鉻鉛合金）、填充物（氧化鎂，作(zuo)用是導熱(re)(re)、絕緣）、外(wai)殼（不繡鋼(gang)、碳鋼(gang)、鈦(tai)材、銅  等）、陶瓷封頭(tou)（作(zuo)用：絕緣）、防爆(bao)盒(he)組成(cheng)的(de)(de)。加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)在工作(zuo)中低(di)溫(wen)(wen)(wen)流體(ti)(ti)介質通過管(guan)(guan)道(dao)在壓(ya)力(li)作(zuo)用下進(jin)入其(qi)輸入口，沿著電加(jia)(jia)熱(re)(re)容器(qi)內部特定換熱(re)(re)流道(dao)，運用空氣電熱(re)(re)管(guan)(guan)的(de)(de)流體(ti)(ti)熱(re)(re)力(li)學(xue)原理設計的(de)(de)路徑，帶走空氣加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)中的(de)(de)電熱(re)(re)元件工作(zuo)中所產生的(de)(de)高(gao)溫(wen)(wen)(wen)熱(re)(re)能(neng)量，使空氣加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)被加(jia)(jia)熱(re)(re)介質溫(wen)(wen)(wen)度升(sheng)高(gao)，加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)(guan)出口得到工藝要求的(de)(de)高(gao)溫(wen)(wen)(wen)介質。

產品特點

1.升溫(wen)時間(jian)在試驗電壓下，元件從環境溫(wen)度升至(zhi)試驗溫(wen)度時間(jian)應不大于15min

2.額(e)定(ding)功(gong)率偏差在充分發(fa)熱的(de)條件下，元件的(de)額(e)定(ding)功(gong)率的(de)偏差應不超過下列規(gui)定(ding)的(de)范圍;對額(e)定(ding)功(gong)率小于等于100W的(de)元件為(wei)(wei):士10%。對額(e)定(ding)功(gong)率大于100W的(de)元件為(wei)(wei)+5%~- 10%或(huo)10W,取兩者中的(de)較大值(zhi)。

3.泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)冷態泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)以及水壓和密封(feng)試驗后泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)應不(bu)超過0.5mA工作(zuo)(zuo)溫度下的(de)熱(re)(re)態泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)應不(bu)超過公式中的(de)計算值，但不(bu)超過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱(re)(re)態泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)mA t-發熱(re)(re)長度mm T-工作(zuo)(zuo)溫度C多(duo)個元件串聯(lian)到電(dian)(dian)源中時，應以這一(yi)組(zu)元件為 整體(ti)進行泄露(lu)電(dian)(dian)流(liu)試驗。

4. 絕緣(yuan)(yuan)電阻出廠檢驗時冷態(tai)絕緣(yuan)(yuan)電阻應(ying)(ying)不小于50MQ密(mi)封試(shi)驗后，長(chang)期存放或者使(shi)用(yong)后的(de)絕緣(yuan)(yuan)電阻應(ying)(ying)不消與MQ工(gong)作溫度(du)(du)下的(de)熱態(tai)絕緣(yuan)(yuan)電阻應(ying)(ying)不低于公式中的(de)計算值，但應(ying)(ying)不小于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱態(tai)絕緣(yuan)(yuan)電阻MQ t一(yi)-發 熱長(chang)度(du)(du)mmT一(yi)工(gong)作溫度(du)(du)°C

5.絕緣耐壓強度元件(jian)應(ying)在規定(ding)的試驗條件(jian)和(he)試驗電壓下保持1min,而無閃絡和(he)擊穿(chuan)現象

6.經受通斷電的能力元件應(ying)能在規定的試(shi)驗條件下經歷2000次通斷電試(shi)驗，而(er)不發(fa)生(sheng)損壞