防(fang)爆(bao)(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)是一(yi)種消耗電(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)轉(zhuan)換(huan)為熱(re)(re)能(neng)(neng)，來對需加(jia)(jia)熱(re)(re)物料進行加(jia)(jia)熱(re)(re)。防(fang)爆(bao)(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)是由外(wai)到里外(wai)殼(ke)（不(bu)繡(xiu)(xiu)鋼(gang)(gang)/碳鋼(gang)(gang)/銅(tong)/鈦材等(deng)、發(fa)熱(re)(re)絲（鎳鉻鉛合金）、填(tian)充物（氧化鎂，作用(yong)是導熱(re)(re)、絕緣）、外(wai)殼(ke)（不(bu)繡(xiu)(xiu)鋼(gang)(gang)、碳鋼(gang)(gang)、鈦材、銅(tong)  等(deng)）、陶瓷封頭(tou)（作用(yong)：絕緣）、防(fang)爆(bao)(bao)盒(he)組成的(de)。加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)在(zai)工(gong)作中(zhong)低溫(wen)流(liu)體(ti)介質(zhi)(zhi)通過管(guan)道在(zai)壓力作用(yong)下(xia)進入(ru)其輸入(ru)口，沿著電(dian)(dian)(dian)加(jia)(jia)熱(re)(re)容(rong)器內部(bu)特定換(huan)熱(re)(re)流(liu)道，運用(yong)空(kong)氣電(dian)(dian)(dian)熱(re)(re)管(guan)的(de)流(liu)體(ti)熱(re)(re)力學原理設計(ji)的(de)路徑，帶(dai)走空(kong)氣加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)中(zhong)的(de)電(dian)(dian)(dian)熱(re)(re)元件(jian)工(gong)作中(zhong)所(suo)產生的(de)高(gao)溫(wen)熱(re)(re)能(neng)(neng)量，使空(kong)氣加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)被加(jia)(jia)熱(re)(re)介質(zhi)(zhi)溫(wen)度升高(gao)，加(jia)(jia)熱(re)(re)管(guan)出(chu)口得到工(gong)藝要求的(de)高(gao)溫(wen)介質(zhi)(zhi)。

產品特點(dian)

1.升溫時間(jian)在(zai)試驗(yan)電(dian)壓(ya)下，元件從環境(jing)溫度升至試驗(yan)溫度時間(jian)應不大于15min

2.額定功(gong)(gong)率偏差(cha)在(zai)充分發(fa)熱(re)的(de)(de)(de)條件下，元件的(de)(de)(de)額定功(gong)(gong)率的(de)(de)(de)偏差(cha)應不(bu)超過下列規定的(de)(de)(de)范圍(wei);對額定功(gong)(gong)率小于(yu)(yu)等于(yu)(yu)100W的(de)(de)(de)元件為(wei):士10%。對額定功(gong)(gong)率大于(yu)(yu)100W的(de)(de)(de)元件為(wei)+5%~- 10%或10W,取兩(liang)者中的(de)(de)(de)較大值(zhi)。

3.泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)(liu)冷(leng)態泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)(liu)以(yi)及水壓和密封試(shi)驗(yan)(yan)后泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)(liu)應不(bu)超過(guo)0.5mA工作溫度下的(de)熱態泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)(liu)應不(bu)超過(guo)公(gong)式中的(de)計算(suan)值(zhi)，但不(bu)超過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱態泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)(liu)mA t-發熱長度mm T-工作溫度C多個元件(jian)串聯到電(dian)源中時，應以(yi)這(zhe)一(yi)組(zu)元件(jian)為 整體進行泄(xie)露(lu)電(dian)流(liu)(liu)試(shi)驗(yan)(yan)。

4. 絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)(zu)出(chu)廠檢驗(yan)時冷態(tai)(tai)絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)(zu)應(ying)不(bu)小(xiao)于50MQ密封試驗(yan)后(hou)，長期存放或(huo)者(zhe)使(shi)用后(hou)的絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)(zu)應(ying)不(bu)消與MQ工(gong)作溫度下(xia)的熱(re)(re)態(tai)(tai)絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)(zu)應(ying)不(bu)低于公式中(zhong)的計算值，但應(ying)不(bu)小(xiao)于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)(re)態(tai)(tai)絕緣(yuan)電阻(zu)(zu)(zu)MQ t一-發 熱(re)(re)長度mmT一工(gong)作溫度°C

5.絕緣耐壓強(qiang)度元件應在規定(ding)的(de)試(shi)驗條(tiao)件和試(shi)驗電壓下(xia)保持1min,而無閃絡和擊穿現象

6.經受通斷(duan)電的能力元件應能在規(gui)定(ding)的試驗條件下經歷2000次通斷(duan)電試驗，而不(bu)發生(sheng)損壞