防爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)一(yi)種消耗電能(neng)轉換為熱(re)(re)(re)(re)能(neng)，來(lai)對需加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)物料進(jin)行加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)。防爆(bao)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)由外(wai)到(dao)里(li)外(wai)殼（不繡鋼(gang)(gang)/碳鋼(gang)(gang)/銅/鈦(tai)材(cai)(cai)等、發熱(re)(re)(re)(re)絲(si)（鎳鉻鉛合金）、填充物（氧化鎂，作(zuo)(zuo)(zuo)用是(shi)導熱(re)(re)(re)(re)、絕(jue)緣）、外(wai)殼（不繡鋼(gang)(gang)、碳鋼(gang)(gang)、鈦(tai)材(cai)(cai)、銅  等）、陶瓷封頭（作(zuo)(zuo)(zuo)用：絕(jue)緣）、防爆(bao)盒組(zu)成(cheng)的。加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)在工作(zuo)(zuo)(zuo)中(zhong)低溫流(liu)體介質通過(guo)管(guan)道在壓力作(zuo)(zuo)(zuo)用下進(jin)入其輸入口(kou)，沿著電加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)容器內部特定換熱(re)(re)(re)(re)流(liu)道，運用空(kong)氣電熱(re)(re)(re)(re)管(guan)的流(liu)體熱(re)(re)(re)(re)力學原理設計的路徑，帶走(zou)空(kong)氣加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)中(zhong)的電熱(re)(re)(re)(re)元件工作(zuo)(zuo)(zuo)中(zhong)所產生的高(gao)溫熱(re)(re)(re)(re)能(neng)量，使空(kong)氣加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)被加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)介質溫度升高(gao)，加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)出(chu)口(kou)得到(dao)工藝要求(qiu)的高(gao)溫介質。

產品特點

1.升溫時間在試驗(yan)電(dian)壓下，元件(jian)從環境溫度升至(zhi)試驗(yan)溫度時間應(ying)不大于15min

2.額定(ding)(ding)功率偏差(cha)在充分(fen)發(fa)熱的(de)條件(jian)(jian)下，元(yuan)件(jian)(jian)的(de)額定(ding)(ding)功率的(de)偏差(cha)應(ying)不超過下列(lie)規定(ding)(ding)的(de)范圍(wei);對(dui)額定(ding)(ding)功率小于等于100W的(de)元(yuan)件(jian)(jian)為:士(shi)10%。對(dui)額定(ding)(ding)功率大(da)于100W的(de)元(yuan)件(jian)(jian)為+5%~- 10%或(huo)10W,取(qu)兩者(zhe)中的(de)較大(da)值。

3.泄露(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)冷態(tai)(tai)(tai)泄露(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)以(yi)及水壓和(he)密封試驗(yan)后泄露(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)應不(bu)超過(guo)0.5mA工作溫度下的熱(re)(re)態(tai)(tai)(tai)泄露(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)應不(bu)超過(guo)公式中(zhong)的計算值，但(dan)不(bu)超過(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱(re)(re)態(tai)(tai)(tai)泄露(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)mA t-發熱(re)(re)長度mm T-工作溫度C多(duo)個元件串聯到電(dian)(dian)(dian)源中(zhong)時，應以(yi)這一(yi)組元件為 整體進行泄露(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)試驗(yan)。

4. 絕緣電阻(zu)出廠(chang)檢(jian)驗(yan)時冷(leng)態絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)(bu)小于(yu)50MQ密(mi)封(feng)試驗(yan)后(hou)，長(chang)期(qi)存放或者使用后(hou)的(de)絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)(bu)消與MQ工作(zuo)溫(wen)度下(xia)的(de)熱(re)(re)態絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)(bu)低于(yu)公式中的(de)計算值，但應(ying)不(bu)(bu)小于(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)(re)態絕緣電阻(zu)MQ t一-發 熱(re)(re)長(chang)度mmT一工作(zuo)溫(wen)度°C

5.絕緣耐壓強度元(yuan)件應(ying)在規定的(de)試驗條件和試驗電壓下保持1min,而(er)無閃絡(luo)和擊穿(chuan)現象

6.經(jing)受(shou)通(tong)斷電(dian)的能(neng)力元件應能(neng)在規定的試驗條(tiao)件下經(jing)歷2000次通(tong)斷電(dian)試驗，而不發(fa)生損壞