防(fang)(fang)爆加(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)一(yi)種消耗電(dian)(dian)能轉換為(wei)熱(re)(re)(re)(re)能，來(lai)對需加(jia)熱(re)(re)(re)(re)物料(liao)進(jin)行加(jia)熱(re)(re)(re)(re)。防(fang)(fang)爆加(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)由外到(dao)里外殼（不(bu)繡鋼/碳鋼/銅/鈦(tai)材等、發熱(re)(re)(re)(re)絲（鎳鉻(ge)鉛(qian)合金）、填充物（氧化鎂，作(zuo)用是(shi)導(dao)熱(re)(re)(re)(re)、絕緣）、外殼（不(bu)繡鋼、碳鋼、鈦(tai)材、銅  等）、陶瓷封(feng)頭（作(zuo)用：絕緣）、防(fang)(fang)爆盒組成(cheng)的。加(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)在工(gong)作(zuo)中低溫(wen)流體(ti)介(jie)(jie)質通過(guo)管(guan)道(dao)在壓力作(zuo)用下進(jin)入其輸入口，沿(yan)著電(dian)(dian)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)容器內部特定換熱(re)(re)(re)(re)流道(dao)，運(yun)用空氣電(dian)(dian)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)的流體(ti)熱(re)(re)(re)(re)力學原理(li)設計(ji)的路徑，帶(dai)走(zou)空氣加(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)中的電(dian)(dian)熱(re)(re)(re)(re)元件工(gong)作(zuo)中所產生的高溫(wen)熱(re)(re)(re)(re)能量，使空氣加(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)被加(jia)熱(re)(re)(re)(re)介(jie)(jie)質溫(wen)度(du)升高，加(jia)熱(re)(re)(re)(re)管(guan)出口得到(dao)工(gong)藝要求的高溫(wen)介(jie)(jie)質。

產品特點

1.升溫(wen)時間在(zai)試驗電壓(ya)下，元(yuan)件從環境溫(wen)度升至試驗溫(wen)度時間應不大于(yu)15min

2.額(e)定功(gong)(gong)率偏差在充分發熱的(de)(de)(de)條(tiao)件(jian)(jian)下，元(yuan)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)額(e)定功(gong)(gong)率的(de)(de)(de)偏差應不超(chao)過(guo)下列規定的(de)(de)(de)范圍;對額(e)定功(gong)(gong)率小于(yu)等(deng)于(yu)100W的(de)(de)(de)元(yuan)件(jian)(jian)為:士10%。對額(e)定功(gong)(gong)率大(da)(da)于(yu)100W的(de)(de)(de)元(yuan)件(jian)(jian)為+5%~- 10%或10W,取(qu)兩者中(zhong)的(de)(de)(de)較大(da)(da)值。

3.泄露電流冷態(tai)泄露電流以及水壓和(he)密(mi)封試驗(yan)后泄露電流應不(bu)超過(guo)(guo)0.5mA工(gong)作(zuo)溫度(du)(du)下的熱態(tai)泄露電流應不(bu)超過(guo)(guo)公式中的計算值，但不(bu)超過(guo)(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱態(tai)泄露電流mA t-發熱長(chang)度(du)(du)mm T-工(gong)作(zuo)溫度(du)(du)C多個元件串聯到電源中時(shi)，應以這一(yi)組元件為 整體進行泄露電流試驗(yan)。

4. 絕緣(yuan)電阻(zu)出廠檢驗(yan)(yan)時冷態絕緣(yuan)電阻(zu)應不小于(yu)50MQ密封試驗(yan)(yan)后，長(chang)期存放或者使(shi)用后的(de)絕緣(yuan)電阻(zu)應不消(xiao)與MQ工作溫度下的(de)熱(re)態絕緣(yuan)電阻(zu)應不低于(yu)公式中的(de)計算值，但應不小于(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態絕緣(yuan)電阻(zu)MQ t一-發 熱(re)長(chang)度mmT一工作溫度°C

5.絕緣耐壓強度元(yuan)件(jian)應在規定(ding)的試驗(yan)條件(jian)和試驗(yan)電壓下(xia)保持1min,而無閃絡(luo)和擊穿現象(xiang)

6.經受通斷電(dian)的(de)能力元件應能在規定的(de)試驗條件下經歷2000次通斷電(dian)試驗，而不發生損(sun)壞(huai)