防爆(bao)(bao)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)一種消耗電能轉(zhuan)換為熱(re)(re)(re)(re)(re)能,來對需加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)物料(liao)進(jin)行加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)。防爆(bao)(bao)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)由外到(dao)里外殼(不繡鋼/碳鋼/銅/鈦材等(deng)、發(fa)熱(re)(re)(re)(re)(re)絲(鎳鉻鉛合(he)金)、填充(chong)物(氧化鎂,作(zuo)用是(shi)導熱(re)(re)(re)(re)(re)、絕(jue)緣)、外殼(不繡鋼、碳鋼、鈦材、銅 等(deng))、陶瓷封頭(作(zuo)用:絕(jue)緣)、防爆(bao)(bao)盒組成的(de)。加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)在工(gong)作(zuo)中低溫流(liu)體介(jie)(jie)質通過管(guan)道(dao)在壓力作(zuo)用下進(jin)入其輸入口(kou),沿著電加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)容(rong)器內部特定換熱(re)(re)(re)(re)(re)流(liu)道(dao),運用空(kong)氣(qi)電熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)的(de)流(liu)體熱(re)(re)(re)(re)(re)力學原(yuan)理設計的(de)路(lu)徑,帶(dai)走空(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)中的(de)電熱(re)(re)(re)(re)(re)元(yuan)件(jian)工(gong)作(zuo)中所產生(sheng)的(de)高溫熱(re)(re)(re)(re)(re)能量(liang),使空(kong)氣(qi)加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)被加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)介(jie)(jie)質溫度(du)升高,加(jia)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)出口(kou)得到(dao)工(gong)藝要求的(de)高溫介(jie)(jie)質。
產品特點(dian)
1.升(sheng)溫時間(jian)在試驗電壓下(xia),元件從(cong)環境溫度升(sheng)至試驗溫度時間(jian)應(ying)不大于15min
2.額定(ding)(ding)功(gong)(gong)(gong)率(lv)(lv)偏差在充(chong)分發(fa)熱的(de)(de)條件下,元件的(de)(de)額定(ding)(ding)功(gong)(gong)(gong)率(lv)(lv)的(de)(de)偏差應不超過下列規(gui)定(ding)(ding)的(de)(de)范圍;對額定(ding)(ding)功(gong)(gong)(gong)率(lv)(lv)小于等于100W的(de)(de)元件為(wei):士10%。對額定(ding)(ding)功(gong)(gong)(gong)率(lv)(lv)大于100W的(de)(de)元件為(wei)+5%~- 10%或10W,取兩(liang)者中的(de)(de)較大值。
3.泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)冷態泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)以及水壓和密封試(shi)驗(yan)后泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)應不(bu)超過(guo)(guo)0.5mA工作溫度(du)下(xia)的熱態泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)應不(bu)超過(guo)(guo)公式中(zhong)的計算值,但不(bu)超過(guo)(guo)5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一 熱態泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)mA t-發熱長(chang)度(du)mm T-工作溫度(du)C多個元件串聯(lian)到電(dian)(dian)源中(zhong)時(shi),應以這(zhe)一組(zu)元件為 整體進(jin)行泄(xie)露(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)試(shi)驗(yan)。
4. 絕(jue)(jue)緣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)出廠檢驗時冷態絕(jue)(jue)緣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)應(ying)(ying)不小(xiao)于(yu)50MQ密封試驗后,長期(qi)存放(fang)或者使用后的(de)(de)絕(jue)(jue)緣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)應(ying)(ying)不消與MQ工作溫(wen)度(du)下的(de)(de)熱態絕(jue)(jue)緣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)應(ying)(ying)不低于(yu)公式中的(de)(de)計算值,但應(ying)(ying)不小(xiao)于(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱態絕(jue)(jue)緣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)MQ t一(yi)-發 熱長度(du)mmT一(yi)工作溫(wen)度(du)°C
5.絕緣耐壓(ya)強(qiang)度(du)元件應在規定的試(shi)驗條件和試(shi)驗電壓(ya)下保持1min,而無閃絡和擊穿現象(xiang)
6.經(jing)受通(tong)斷(duan)電(dian)的能力元件(jian)應能在規定的試驗條件(jian)下經(jing)歷(li)2000次通(tong)斷(duan)電(dian)試驗,而不發生損壞