防(fang)爆(bao)加熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)一種消耗電(dian)(dian)能轉(zhuan)換為熱(re)(re)(re)(re)(re)能,來對(dui)需加熱(re)(re)(re)(re)(re)物(wu)料(liao)進行加熱(re)(re)(re)(re)(re)。防(fang)爆(bao)加熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)是(shi)由(you)外到里外殼(不(bu)繡鋼/碳鋼/銅/鈦材等、發(fa)熱(re)(re)(re)(re)(re)絲(鎳鉻(ge)鉛合金)、填充物(wu)(氧化鎂,作用(yong)是(shi)導熱(re)(re)(re)(re)(re)、絕緣(yuan))、外殼(不(bu)繡鋼、碳鋼、鈦材、銅 等)、陶(tao)瓷封頭(作用(yong):絕緣(yuan))、防(fang)爆(bao)盒組成(cheng)的(de)。加熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)在工(gong)作中低溫(wen)流(liu)(liu)體介質通過(guo)管(guan)道(dao)在壓力(li)(li)作用(yong)下進入其輸入口,沿著電(dian)(dian)加熱(re)(re)(re)(re)(re)容器內部特定換熱(re)(re)(re)(re)(re)流(liu)(liu)道(dao),運用(yong)空(kong)氣電(dian)(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)的(de)流(liu)(liu)體熱(re)(re)(re)(re)(re)力(li)(li)學原理(li)設計(ji)的(de)路徑(jing),帶走空(kong)氣加熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)中的(de)電(dian)(dian)熱(re)(re)(re)(re)(re)元(yuan)件工(gong)作中所(suo)產生的(de)高(gao)溫(wen)熱(re)(re)(re)(re)(re)能量,使空(kong)氣加熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)被加熱(re)(re)(re)(re)(re)介質溫(wen)度(du)升高(gao),加熱(re)(re)(re)(re)(re)管(guan)出口得到工(gong)藝要求的(de)高(gao)溫(wen)介質。
產品(pin)特點(dian)
1.升(sheng)(sheng)溫(wen)(wen)時(shi)間(jian)在試驗電(dian)壓下,元件(jian)從環境溫(wen)(wen)度升(sheng)(sheng)至試驗溫(wen)(wen)度時(shi)間(jian)應不大于15min
2.額(e)定功率(lv)偏(pian)差在充分發(fa)熱的(de)條件下,元件的(de)額(e)定功率(lv)的(de)偏(pian)差應不超(chao)過下列規(gui)定的(de)范(fan)圍;對額(e)定功率(lv)小于等于100W的(de)元件為:士10%。對額(e)定功率(lv)大于100W的(de)元件為+5%~- 10%或10W,取兩者(zhe)中的(de)較大值(zhi)。
3.泄露電流(liu)冷態泄露電流(liu)以及水壓和密封試驗后泄露電流(liu)應(ying)不(bu)超過0.5mA工作(zuo)溫(wen)度(du)下的熱態泄露電流(liu)應(ying)不(bu)超過公式(shi)中的計算(suan)值,但(dan)不(bu)超過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱態泄露電流(liu)mA t-發熱長度(du)mm T-工作(zuo)溫(wen)度(du)C多個元件(jian)串(chuan)聯到電源(yuan)中時,應(ying)以這一(yi)組(zu)元件(jian)為 整體進(jin)行泄露電流(liu)試驗。
4. 絕緣電(dian)阻(zu)(zu)出廠檢驗時(shi)冷態(tai)絕緣電(dian)阻(zu)(zu)應(ying)不(bu)(bu)小于50MQ密封試驗后,長(chang)期(qi)存放或者使用后的絕緣電(dian)阻(zu)(zu)應(ying)不(bu)(bu)消與(yu)MQ工作(zuo)溫度下的熱(re)態(tai)絕緣電(dian)阻(zu)(zu)應(ying)不(bu)(bu)低于公式(shi)中(zhong)的計算(suan)值,但(dan)應(ying)不(bu)(bu)小于1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態(tai)絕緣電(dian)阻(zu)(zu)MQ t一-發 熱(re)長(chang)度mmT一工作(zuo)溫度°C
5.絕緣耐壓強度元(yuan)件(jian)應在規定的試(shi)(shi)驗條件(jian)和試(shi)(shi)驗電壓下保持1min,而無閃絡(luo)和擊(ji)穿(chuan)現(xian)象(xiang)
6.經受(shou)通(tong)(tong)斷電的能力元件應能在規定的試驗(yan)條件下經歷(li)2000次通(tong)(tong)斷電試驗(yan),而不發生損壞