防爆加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)(guan)是(shi)一種消耗電(dian)能(neng)(neng)轉換為熱(re)(re)(re)能(neng)(neng)，來(lai)對需加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)物料進(jin)行(xing)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)。防爆加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)(guan)是(shi)由(you)外(wai)到(dao)里外(wai)殼(ke)（不(bu)繡鋼(gang)(gang)/碳鋼(gang)(gang)/銅(tong)/鈦材(cai)等、發(fa)熱(re)(re)(re)絲（鎳鉻鉛合(he)金）、填充物（氧(yang)化鎂，作(zuo)用(yong)是(shi)導熱(re)(re)(re)、絕緣(yuan)）、外(wai)殼(ke)（不(bu)繡鋼(gang)(gang)、碳鋼(gang)(gang)、鈦材(cai)、銅(tong)  等）、陶瓷封頭（作(zuo)用(yong)：絕緣(yuan)）、防爆盒組(zu)成的(de)。加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)(guan)在工作(zuo)中(zhong)低溫(wen)流(liu)(liu)體(ti)介(jie)(jie)質(zhi)通過(guo)管(guan)(guan)(guan)道在壓力(li)作(zuo)用(yong)下進(jin)入其(qi)輸入口，沿著電(dian)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)容器內部特定換熱(re)(re)(re)流(liu)(liu)道，運(yun)用(yong)空(kong)氣(qi)電(dian)熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)(guan)的(de)流(liu)(liu)體(ti)熱(re)(re)(re)力(li)學原(yuan)理設計的(de)路徑，帶(dai)走空(kong)氣(qi)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)(guan)中(zhong)的(de)電(dian)熱(re)(re)(re)元(yuan)件工作(zuo)中(zhong)所產生的(de)高(gao)溫(wen)熱(re)(re)(re)能(neng)(neng)量，使空(kong)氣(qi)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)(guan)被(bei)加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)介(jie)(jie)質(zhi)溫(wen)度升高(gao)，加(jia)(jia)熱(re)(re)(re)管(guan)(guan)(guan)出口得到(dao)工藝要求的(de)高(gao)溫(wen)介(jie)(jie)質(zhi)。

產品特點

1.升溫時(shi)間在試(shi)驗電壓下，元件從環境溫度升至試(shi)驗溫度時(shi)間應(ying)不大于15min

2.額(e)定(ding)功率(lv)(lv)偏差(cha)在(zai)充分發熱的(de)(de)(de)(de)條(tiao)件下，元件的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)功率(lv)(lv)的(de)(de)(de)(de)偏差(cha)應不超過(guo)下列規(gui)定(ding)的(de)(de)(de)(de)范(fan)圍;對額(e)定(ding)功率(lv)(lv)小于(yu)等于(yu)100W的(de)(de)(de)(de)元件為(wei):士10%。對額(e)定(ding)功率(lv)(lv)大于(yu)100W的(de)(de)(de)(de)元件為(wei)+5%~- 10%或10W,取兩(liang)者中的(de)(de)(de)(de)較(jiao)大值。

3.泄露(lu)(lu)電流(liu)(liu)冷態泄露(lu)(lu)電流(liu)(liu)以(yi)(yi)及水壓(ya)和密(mi)封試(shi)驗后泄露(lu)(lu)電流(liu)(liu)應(ying)(ying)不(bu)超(chao)過0.5mA工(gong)作溫度(du)下的(de)熱態泄露(lu)(lu)電流(liu)(liu)應(ying)(ying)不(bu)超(chao)過公式中的(de)計算值，但不(bu)超(chao)過5mA I=1/6 (tTX0.00001) I一(yi) 熱態泄露(lu)(lu)電流(liu)(liu)mA t-發熱長度(du)mm T-工(gong)作溫度(du)C多個元件(jian)(jian)串聯到電源中時，應(ying)(ying)以(yi)(yi)這一(yi)組元件(jian)(jian)為 整體進行泄露(lu)(lu)電流(liu)(liu)試(shi)驗。

4. 絕緣電阻(zu)出廠檢驗(yan)時(shi)冷態絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)小于(yu)(yu)50MQ密封試驗(yan)后，長(chang)期存(cun)放或者使用后的(de)絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)消與MQ工(gong)作溫(wen)度下的(de)熱(re)態絕緣電阻(zu)應(ying)不(bu)低于(yu)(yu)公式中的(de)計算值，但應(ying)不(bu)小于(yu)(yu)1MQ R=「(10-0.015T) /t」X0.001 R熱(re)態絕緣電阻(zu)MQ t一-發 熱(re)長(chang)度mmT一工(gong)作溫(wen)度°C

5.絕緣耐壓強度元(yuan)件應在規定(ding)的試(shi)驗條件和試(shi)驗電壓下(xia)保持1min,而無閃絡和擊穿(chuan)現象

6.經受通(tong)斷(duan)電(dian)(dian)的(de)能力元件應能在規定(ding)的(de)試驗條(tiao)件下經歷(li)2000次通(tong)斷(duan)電(dian)(dian)試驗，而不發(fa)生(sheng)損(sun)壞(huai)